申请/专利权人：三井金属矿业株式会社

申请日：2021-12-22

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117916553A

主分类号：G01B21/30

分类号：G01B21/30;G01N21/956

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：提供一种表示与高频特性高度相关的铜箔的表面参数的测定方法。该铜箔的表面参数的测定方法包括以下工序：工序a，获得未处理铜箔的至少一个表面的表面轮廓的工序；工序b，基于表面轮廓设定L滤波器的截止值的工序；工序c，获得源自未处理铜箔的表面处理铜箔的至少一个表面的表面轮廓的工序；工序d，对表面处理铜箔的表面轮廓进行滤波处理的工序，其中包括使用上述截止值的L滤波器进行处理的步骤；和工序e，基于滤波处理后的表面轮廓，计算表面处理铜箔的表面的、ISO25178所规定的表面参数中的至少1种的工序。

主权项：1.一种铜箔的表面参数的测定方法，其包括以下工序：工序a，获得未处理铜箔的至少一个表面的表面轮廓的工序；工序b，基于所述表面轮廓设定L滤波器的截止值的工序；工序c，获得源自所述未处理铜箔的表面处理铜箔的至少一个表面的表面轮廓的工序；工序d，对所述表面处理铜箔的表面轮廓进行滤波处理的工序，其中包括使用所述截止值的L滤波器进行处理的步骤；和工序e，基于所述滤波处理后的表面轮廓，计算所述表面处理铜箔的所述表面的、ISO25178所规定的表面参数中的至少1种的工序。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 三井金属矿业株式会社 铜箔的表面参数的测定方法、铜箔的筛选方法以及表面处理铜箔的制造方法

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