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【发明公布】基于偏振光成像的同轴热电偶绝缘层厚度测量装置及方法_中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所_202410329849.7 

申请/专利权人:中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所

申请日:2024-03-22

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117928399A

主分类号:G01B11/06

分类号:G01B11/06;G06T7/60;G06T7/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本发明属于传感器检测技术领域,公开了一种基于偏振光成像的同轴热电偶绝缘层厚度测量装置及方法。测量装置包括夹持装置、入射光装置、反射光装置和计算机。入射光源发出的线偏振光经同轴热电偶的测量端面反射后进入检偏片,经过变焦镜头放大后在相机上成像。测量方法利用绝缘层的非金属材质与电极管、电极丝的金属材质不同而导致的偏振光成像特性不同来提高成像对比度,进而将热电偶端面材质差异形成的高梯度灰度边界等效为绝缘层边界,通过偏振度成像定位绝缘层并获取其厚度;还能够通过控制调整光源入射角度、起偏角、检偏角、相机等实现偏振度图像的自动采集和绝缘层厚度的自动计算,进一步确保获取高精度的绝缘层厚度数据。

主权项:1.基于偏振光成像的同轴热电偶绝缘层厚度测量装置,其特征在于,所述的同轴热电偶绝缘层厚度测量装置包括夹持装置、入射光装置、反射光装置和计算机(17);夹持装置包括热电偶支架(9)和固定在热电偶支架(9)上的夹具(8);同轴热电偶(7)固定在夹具(8)上,同轴热电偶(7)的测量端面与同轴热电偶(7)的中心轴线垂直;入射光装置包括入射光源(1),在入射光源(1)的入射光光路上依次布置的准直透镜(3)和起偏片(6);起偏片(6)固定在电动偏振旋转架Ⅰ(4)上,电动偏振旋转架Ⅰ(4)通过旋转架线缆Ⅰ(20)连接旋转架驱动器Ⅰ(5);包括控制入射光源(1)的光源控制器(2),光源控制器(2)通过光源控制数据线(14)连接至计算机(17);还包括控制电动偏振旋转架Ⅰ(4)旋转角度的旋转架驱动器Ⅰ(5),旋转架驱动器Ⅰ(5)通过旋转架驱动器数据线Ⅰ(15)连接至计算机(17);反射光装置包括沿反射光光路上依次布置的检偏片(18)、变焦镜头(11)和相机(10);检偏片(18)固定在电动偏振旋转架Ⅱ(12)上;相机(10)通过相机数据线(13)连接至计算机(17);还包括控制电动偏振旋转架Ⅱ(12)旋转角度的旋转架驱动器Ⅱ(19),电动偏振旋转架Ⅱ(12)通过旋转架线缆Ⅱ(21)连接旋转架驱动器Ⅱ(19),旋转架驱动器Ⅱ(19)通过旋转架驱动器数据线Ⅱ(16)连接至计算机(17)。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 基于偏振光成像的同轴热电偶绝缘层厚度测量装置及方法

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