申请/专利权人：浙江芯科半导体有限公司

申请日：2023-12-18

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117929962A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：本发明涉及碳化硅芯片技术领域，具体公开了一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，包括：机体；抗辐照仓门，所述抗辐照仓门铰接在机体的外部；辐照装置，所述辐照装置设置在机体的内侧壁上；触点机构，所述触点机构设置在机体的内部；本发明通过设置的安装板、拉伸座、放置板座和拉伸簧使得通过滑动板与拉伸簧之间的弹性伸缩及滑动机构的设置能够增加滑动板在进行滑动伸缩时的稳定性，进而碳化硅芯片在通过抵合板的抵合夹持，能够对其进行固定夹持操作，随后对限位座的拉伸转动操作，对触点探针能够在待测碳化硅芯片的电机区进行快速通电连接，进而有效增加对碳化硅芯片的快速抗辐照测试操作。

主权项：1.一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于，包括：机体1；抗辐照仓门2，所述抗辐照仓门2铰接在机体1的外部；辐照装置3，所述辐照装置3设置在机体1的内侧壁上；触点机构4，所述触点机构4设置在机体1的内部；预警机构5，所述预警机构5固定安装在机体1的内侧壁上；夹持机构6，所述夹持机构6安装在触点机构4的顶端；滑动机构7，所述滑动机构7设置在夹持机构6的外部。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浙江芯科半导体有限公司 一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备

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