申请/专利权人：欣旺达电子股份有限公司

申请日：2021-08-23

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN113791361B

主分类号：G01R31/389

分类号：G01R31/389;G01R31/392

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.26#授权;2021.12.31#实质审查的生效;2021.12.14#公开

摘要：本申请公开了一种内阻老化计算方法、系统、管理系统、汽车及存储介质。其中，内阻老化计算方法用于计算电池的目标内阻老化，所述内阻老化计算方法包括：获取所述电池的温度参考区间和荷电状态参考区间；在所述温度参考区间和所述荷电状态参考区间内，根据预设电流条件计算得到多个候选内阻；根据多个所述候选内阻、所述电池的初始化内阻计算得到所述电池的所述目标内阻老化。本申请实施例能够在保证内阻老化计算精度的同时，实现内阻老化的实时在线计算。

主权项：1.内阻老化计算方法，用于计算电池的目标内阻老化，其特征在于，所述内阻老化计算方法包括：获取所述电池的温度参考区间和荷电状态参考区间；在所述温度参考区间和所述荷电状态参考区间内，获取所述电池的放电电流小于第一预设电流阈值的持续时间；确定所述持续时间大于预设时间阈值，若所述放电电流大于第二预设电流阈值，获取所述电池的第一测试电压和第一测试电流；间隔预设间隔时间，获取所述电池的第二测试电压和第二测试电流，根据所述第一测试电压、所述第一测试电流、所述第二测试电压、所述第二测试电流计算得到候选内阻；所述温度参考区间和所述荷电状态参考区间包括多个计算区间，根据所述候选内阻更新对应所述计算区间的候选内阻数量，当所述候选内阻对应的所述计算区间发生变化，且变化前的所述计算区间的候选内阻数量大于预设滤波阈值，则对变化前所述计算区间内的所述候选内阻进行均值处理，以得到变化前所述计算区间的平均候选内阻；根据多个所述平均候选内阻得到多个对应的初始化内阻；其中，所述平均候选内阻与所述初始化内阻属于相同的所述计算区间；根据多个所述平均候选内阻和多个所述初始化内阻得到多个候选内阻老化；根据多个所述候选内阻老化和所述计算区间的数量得到所述目标内阻老化。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 欣旺达电子股份有限公司 内阻老化计算方法、系统、管理系统、汽车及存储介质

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD