申请/专利权人:台湾积体电路制造股份有限公司
申请日:2022-01-19
公开(公告)日:2024-04-30
公开(公告)号:CN115305451B
主分类号:C23C14/34
分类号:C23C14/34;C23C14/54;C23C14/56
优先权:["20210723 US 17/384,310"]
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.30#授权;2022.11.25#实质审查的生效;2022.11.08#公开
摘要:提供一种能够通过移除沉积在准直器的表面上的靶材料来清洁自身的沉积系统。根据本公开的沉积系统包括衬底处理室。所述沉积系统包括:衬底基座,位于衬底处理室中,所述衬底基座被配置成对衬底进行支撑;靶,包围衬底处理室;以及准直器,具有设置在靶与衬底之间的多个中空结构、振动产生单元、及清洁气体出口。
主权项:1.一种沉积系统,包括:衬底处理室;衬底基座,位于所述衬底处理室中,所述衬底基座被配置成对衬底进行支撑;靶,包围所述衬底处理室;准直器,具有设置在所述靶与所述衬底之间的多个中空结构;以及多个清洁气体出口,位于所述准直器内。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 台湾积体电路制造股份有限公司 沉积系统及衬底处理室中将材料从靶沉积到衬底上的方法
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