申请/专利权人：硅工厂股份有限公司

申请日：2019-04-17

公开（公告）日：2024-05-17

公开（公告）号：CN110389680B

主分类号：G06F3/041

分类号：G06F3/041

优先权：["20180418 KR 10-2018-0044863"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.05.17#授权;2021.04.27#实质审查的生效;2019.10.29#公开

摘要：一个示范性实施例提供一种触摸感测装置，包含：第一处理器，配置成识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值；存储单元，配置成存储指示在多个电极当中对应于缺陷性感测值的缺陷性电极的信息；以及第二处理器，配置成使用邻近于缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在多个电极的第二感测值当中对应于缺陷性电极的感测值。

主权项：1.一种触摸感测装置，包括：第一处理器，配置成识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于所述面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值；存储单元，配置成存储指示在所述多个电极当中对应于所述缺陷性感测值的缺陷性电极的信息；以及第二处理器，配置成使用邻近于所述缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在所述多个电极的第二感测值当中对应于所述缺陷性电极的感测值，其中所述多个电极的所述第二感测值是当存在触摸或所述外部对象接近所述面板时的感测值，其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的边缘处时，所述第二处理器配置成用与所述边缘平行的两个相邻电极的感测值的平均值来替换所述缺陷性电极的所述感测值。

全文数据：触摸感测装置相关申请的交叉引用本申请主张2018年4月18日提交的韩国专利申请第10-2018-0044863号的优先权，所述申请如同本文中所完全阐述的一般出于所有目的特此以引用的方式并入。技术领域本公开涉及一种用于感测触摸的技术和一种显示装置。背景技术安置于面板上的电极之间的距离变得较短。电极之间的较短距离使得有可能配置高分辨率面板但在制造或使用面板时增大缺陷的概率。举例来说，短路可在安置于面板上的电极之间出现，或开路失败的概率可增大。当电极是触摸电极时，可由于电极之间的短路而减小触摸灵敏度，或可能在电极处未检测到触摸。不仅短路而且电极开路失败也可导致类似问题。举例来说，如果开路失败出现在连接到触摸电极的管线中，那么在电极处可能未检测到触摸。通常，当在制造面板的过程中检测到这些问题，如短路或电极开路失败时，所述面板会经舍弃。此外，如果在使用产品期间检测到这些问题，那么所述面板会经替换或所述产品会经舍弃。然而，随着面板的大小变大，由于面板弃置所致的损失增大。因此，对使用面板而不是舍弃面板的技术的研究已十分必要。发明内容在这一背景下，一个实施例的方面将提供一种用于再次使用包含缺陷性电极的面板且同时使质量劣化最小化的技术。根据前述方面，一个实施例提供包含第一处理器、存储单元以及第二处理器的触摸感测装置。第一处理器可识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值。存储单元可存储指示在多个电极当中对应于缺陷性感测值的缺陷性电极的信息。第二处理器可使用邻近于缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在多个电极的第二感测值当中对应于缺陷性电极的感测值。第一处理器可在操作开始时识别缺陷性感测值。第一处理器可识别在操作时而不是操作开始时的缺陷性感测值。第一处理器可在操作开始时使用从驱动电路接收的原始感测值来产生第一感测值，且在操作时间期间当原始感测值与第一感测值之间的差值是特定值或小于所述特定值时，可识别缺陷性感测值。在操作时间期间当原始感测值与第一感测值之间的差值是所述特定值或小于所述特定值时，第一处理器可通过对从多个帧获得的原始感测值取平均来更新第一感测值。当第二感测值当中的至少一个感测值满足触摸确定条件时，第二处理器可校正对应于缺陷性电极的感测值。第一处理器可通过对从多个帧获得的各别电极的感测值取平均来产生第一感测值。第一处理器可从第一感测值当中选择代表性感测值，且可将第一感测值当中与代表性感测值的平均值相差特定值或相差大于所述特定值的感测值识别为缺陷性感测值。当多个缺陷性电极在第一方向上彼此相邻时，第二处理器可用在垂直于第一方向的第二方向上的两个相邻电极的感测值的平均值来替换每一缺陷性电极的感测值。当缺陷性电极安置于多个电极的边缘处时，第二处理器可用与边缘平行的两个相邻电极的感测值的平均值来替换缺陷性电极的感测值。当缺陷性电极安置于多个电极的拐角中时，第二处理器可用在第一方向和第二方向上的两个相邻电极的感测值的平均值来替换缺陷性电极的感测值。另一实施例提供包含外部存储器、校正处理器以及坐标计算器的触摸感测装置。在这个实施例中，校正处理器和坐标计算器可安置于集成电路中，且外部存储器可安置于集成电路的外部。当存在邻近于缺陷性电极的上部、下部、右方以及左方的四个电极时，校正处理器可用通过将四个电极的感测值代入到b样条等式中所获得的值替换缺陷性电极的感测值。当缺陷性电极安置于多个电极的边缘处时，校正处理器可用通过将与边缘平行的四个相邻电极的感测值代入到双三次等式中所获得的值替换缺陷性电极的感测值。外部存储器可包含配置成根据外部输入的信号将信息记录在内部单元中的接口。多个电极的第二感测值可以是当存在触摸或外部对象接近面板时的感测值。可集成显示面板与触摸面板以形成面板。触摸感测装置可进一步包含接收器，所述接收器配置成从多个驱动集成电路接收多个电极的感测值，所述多个驱动集成电路单独地按区域来驱动多个电极。驱动集成电路可将在第一电压与第二电压之间交替的驱动信号供应到电极，且可根据对应于驱动信号的形成于电极上的响应信号来产生电极的感测值，且具有与第一电压和第二电压不同的电压电平的电压可形成于缺陷性电极上。如上文所描述，根据示范性实施例，有可能重新使用包含缺陷性电极的面板同时使质量劣化最小化，借此使由于弃置面板所致的损失最小化。附图说明通过以下结合附图进行的详细描述，本公开的上述和其它方面、特征以及优点将更加显而易见，在附图中：图1说明根据示范性实施例的显示装置的配置。图2说明根据示范性实施例的将触摸电极用作共用电压电极的像素的内部配置。图3说明根据示范性实施例的驱动触摸电极的触摸感测装置。图4说明根据示范性实施例的触摸电极中的缺陷的出现。图5说明触摸图像的第一实例。图6说明触摸图像的第二实例。图7是说明图5和图6中的第一管线的感测值的曲线图。图8是说明图5和图6中的第二管线的感测值的曲线图。图9说明根据实施例的面板与触摸感测装置的配置。图10是说明根据示范性实施例的控制触摸感测装置的方法的流程图。图11说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第一实例。图12说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第二实例。图13说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第三实例。图14说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第四实例。图15说明根据另一示范性实施例的面板与触摸感测装置的配置。图16说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第一实例。图17说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第二实例。图18说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第三实例。图19说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第四实例。图20说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第五实例。图21说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第六实例。图22说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第七实例。图23说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第八实例。具体实施方式在下文中，将参考附图详细地描述本公开的实施例。在将附图标号添加到每一附图中的元件时，相同元件尽管在不同附图中示出也将尽可能由相同附图标号指定。此外，在本公开的以下描述中，当确定并入本文中的已知功能和配置的详细描述可能使本公开的主题相当不清晰时，将省略此描述。另外，在描述本公开的组件时，可能在本文中使用如第一、第二、A、B、a、b或类似物的术语。这些术语仅用于区分一个结构元件与其它结构元件，且对应结构元件的特性、次序、顺序或类似物不受所述术语限制。当在说明书中描述一个组件“连接”、“耦合”或“接合”到另一组件时，应理解，第一组件可直接连接、耦合或接合到第二组件，而且第三组件可“连接”、“耦合”以及“接合”在第一组件与第二组件之间。图1说明根据示范性实施例的显示装置的配置。参考图1，显示装置100包含面板110、数据驱动装置120、栅极驱动装置130以及触摸感测装置140。数据驱动装置120、栅极驱动装置130以及触摸感测装置140中的每一个可驱动面板110中所包含的至少一个组件。数据驱动装置120可驱动连接到像素P的数据线DL，且栅极驱动装置130可驱动连接到像素P的栅极线GL。触摸感测装置140可驱动安置于面板110上的触摸电极EL。数据驱动装置120可将数据电压供应到数据线DL以便将图像显示在面板110的每一像素P上。数据驱动装置120可包含至少一个数据驱动器集成电路，且所述至少一个数据驱动器集成电路可通过卷带自动接合tape-automated-bonding；TAB法或玻璃上芯片chip-on-glass；COG法连接到面板110的接合衬垫，或可直接形成于面板110上。在必要时，数据驱动器集成电路可与面板110集成。另外，数据驱动装置120可由膜上芯片chip-on-film；COF法提供。栅极驱动装置130可将扫描信号供应到栅极线GL以便开启或断开安置于每一像素P处的晶体管。栅极驱动装置130可如图1中安置于面板110的一侧处，或可取决于驱动方法而划分为两部分以便安置于面板110的两侧处。此外，栅极驱动装置130可包含至少一个栅极驱动器集成电路，且所述至少一个栅极驱动器集成电路可通过TAB法或COG法连接到面板110的接合衬垫，或以面板内栅极gate-in-panel；GIP型提供从而直接形成于面板110上。在必要时，栅极驱动器集成电路可与面板110集成。另外，栅极驱动装置130可通过膜上芯片COF法提供。面板110可仅包含显示面板，或可进一步包含触摸面板触摸屏面板：TSPTouchScreenPanel。在此，显示面板和触摸面板可共享一些组件。举例来说，用于检测触摸面板上的触摸的触摸电极EL可用作共用电压电极，所述共用电压电极为显示面板供应共用电压。尽管由于显示面板和触摸面板与彼此共享一些组件，这一面板110也称为集成面板，但本公开不限于此。此外，尽管单元内面板已知为集成显示面板与触摸面板的类型，但单元内面板仅是面板110的实例。本公开所应用的面板不限于单元内面板。多个触摸电极EL可安置于面板110上，且触摸感测装置140可使用驱动信号来驱动触摸电极EL。触摸感测装置140可根据对应于驱动信号的形成于触摸电极EL中的响应信号来在触摸电极EL上产生感测值。触摸感测装置140可使用安置于面板l10上的多个触摸电极EL的感测值来计算触摸坐标，且可将计算出的触摸坐标传输到另一装置例如主机装置以供使用。通常，当缺陷出现在触摸电极EL中时，触摸面板经舍弃。在这种情况下，引发由于弃置触摸面板所致的损失。当触摸面板和显示面板以单一形式集成时，此类损失可增大。举例来说，当触摸电极EL用作显示面板中的共用电压电极时，如果缺陷出现在触摸电极EL中，那么需要舍弃包含触摸面板和显示面板的整个面板，因为触摸面板和显示面板与彼此集成。图2说明根据示范性实施例的将触摸电极用作共用电压电极的像素的内部配置。参考图2，像素P可包含晶体管TFT、液晶LC和共用电压电极VCOM。晶体管TFT的栅极端子可连接到栅极线GL，其漏极端子可连接到数据线DL，且其源极端子可连接到液晶LC。当经由栅极线GL将对应于接通电压的扫描信号SCAN供应到栅极端子时，使得晶体管TFT的漏极端子和源极端子导电，且将数据电压Vdata供应到液晶LC。可将共用电压供应到共用电压电极VCOM。可根据共用电压与数据电压Vdata之间的差值来控制液晶LC，借此调节像素P的亮度。共用电压电极VCOM可以是与由参考图1所描述的触摸感测装置见图1中的标号140驱动的触摸电极EL相同的电极。当一个电极用作触摸电极EL和共用电压电极VCOM两者时，不可能仅单独地替换或舍弃触摸面板，且因此由于弃置所致的损失可进一步增大。图3说明根据示范性实施例的驱动触摸电极的触摸感测装置。参考图3，触摸感测装置140可使用驱动信号Stx来驱动触摸电极EL，且可根据对应于驱动信号Stx的形成于触摸电极EL上的响应信号Srx来感测外部对象OBJ对面板的触摸或接近。在此，触摸感测装置140采用通过检测触摸电极EL的电容或电容变化来识别对象OBJ的接近或触摸的电容触摸模式。举例来说，可将电容触摸模式分类为互电容触摸模式和自电容触摸模式。在作为一种电容触摸模式类型的互电容触摸模式中，将触摸驱动信号Stx应用于一个触摸电极，且接着感测与所述一个触摸电极耦合的另一触摸电极。在互电容触摸模式中，其它触摸电极处感测到的值取决于对象OBJ如手指、笔或类似物的接近或触摸而改变。互电容触摸模式可使用这一感测值来检测触摸的出现和触摸的坐标。在作为另一电容触摸模式类型的自电容触摸模式中，将触摸驱动信号Stx应用于一个触摸电极，且接着检测所述一个触摸电极。在自电容触摸模式中，所述一个触摸电极处感测到的值取决于对象OBJ如手指、笔或类似物的接近或触摸而改变。自电容触摸模式可使用这一感测值来检测触摸的出现和触摸的坐标。在自电容触摸模式中，应用触摸驱动信号Stx的触摸电极与待感测的触摸电极相同。示范性实施例可应用于互电容触摸模式和自电容触摸模式两者。在以下所说明的实例中，出于描述方便起见，将描述应用自电容触摸模式的示范性实施例。当缺陷出现在触摸电极中时，响应信号Srx改变。触摸感测装置140可使用根据响应信号Srx的感测值来确定缺陷是否出现在触摸电极EL中。图4说明根据示范性实施例的触摸电极中的缺陷的出现。参考图4，当不存在外部对象的触摸或接近时，基极电容Ce可形成于触摸电极EL中。触摸感测装置140可将驱动信号Stx供应到触摸电极EL且可从触摸电极EL接收响应信号Srx。触摸感测装置140可使用响应信号Srx来识别对应于触摸电极EL的电容的感测值。当感测值不同于对应于基极电容Ce的基极感测值时，触摸感测装置140可识别外部对象接近或触摸触摸电极EL。然而，在外部对象并不接近或触摸触摸电极EL或据估计不接近或触摸触摸电极EL的情况下，触摸感测装置140的感测值可不同于基极感测值。在这种情况下，触摸感测装置140可确定缺陷已在触摸电极EL中出现。举例来说，触摸感测装置140可使用形成于触摸电极EL中的响应信号Srx来识别对应于触摸电极EL的电容的感测值，其中当感测值不同于对应于基极电容Ce的基极感测值时，触摸感测装置140可确定缺陷已在触摸电极EL中出现。当触摸电极EL与外周导体410短路时，经由响应信号Srx感测的电容可根据触摸电极EL的电容Ce与外周导体410的电容C1之间的连接关系而增大或减小。举例来说，当触摸电极EL的电容Ce和外周导体410的电容C1存在并联关系时，经由响应信号Srx感测的电容可增大。具有缺陷的触摸电极EL的电容改变，且相应地由触摸感测装置140感测的值也改变。触摸感测装置140可使用感测值来识别电极EL的缺陷。根据一个示范性实施例，当确定缺陷已在触摸电极EL中出现时，触摸感测装置140可校正触摸电极EL的感测值，借此支持面板重新使用而不是舍弃面板。可将具有缺陷的触摸电极EL的感测值校正为相邻触摸电极的感测值。当外部对象触摸或接近面板时，安置于面板上的触摸电极的状态例如，电容改变，且触摸感测装置可感测触摸电极的状态，借此感测外部对象的触摸或接近。然而，当外部对象触摸或接近面板时，多个触摸电极的状态而不是一个触摸电极的状态同时改变。触摸感测装置可使用邻近于具有缺陷的触摸电极EL安置的触摸电极的同时改变感测值来校正具有缺陷的触摸电极EL的感测值。参考图5到图8呈现适用于示范性实施例的校正的说明性原理。图5说明触摸图像的第一实例，图6说明触摸图像的第二实例，图7是说明图5和图6中的第一管线的感测值的曲线图，且图8是说明图5和图6中的第二管线的感测值的曲线图。参考图5的触摸图像，其是指示出对应于触摸电极的位置的感测值的表，由于外部对象OBJ的触摸，第一管线X中的第三触摸电极的感测值是182，其是最高值，且所述感测值随着与所述触摸电极的距离增大而减小。图7中所示出的第一曲线710表示图5中的第一管线X中的感测值。如第一曲线710中所示出，沿面板上的管线识别的感测值形成连续曲线，且触摸感测装置可通过将沿管线识别的多个感测值输入到具体模型或算法中来计算触摸坐标。举例来说，触摸感测装置可将沿第一管线X识别的三个或大于三个感测值代入到预定函数中，例如高斯曲线Gaussiancurve，借此计算第一管线X的方向上的第一触摸坐标T1。可通过计算两个正交方向上的触摸坐标来计算平面上的触摸坐标。图8中所示出的第四曲线810表示图5中的第二管线Y中的感测值。如第四曲线810中所示出，沿面板上的管线识别的感测值形成连续曲线，且触摸感测装置可通过将沿管线识别的多个感测值输入到具体模型或算法中来计算触摸坐标。举例来说，触摸感测装置可将沿垂直于第一管线X的第二管线Y识别的三个或大于三个感测值代入到预定函数例如，高斯曲线中，借此计算在第二管线Y的方向上的第二触摸坐标T2。当缺陷出现在具体触摸电极中时，触摸电极的感测值可能异常，如图6、图7以及图8中所示出。参考图7中的第二曲线720，出现缺陷的X4位置处的感测值异常。参考图8中的第五曲线820，出现缺陷的Y3位置处的感测值异常。触摸感测装置可使用相邻触摸电极的感测值来校正出现缺陷的触摸电极的感测值。如上文所描述，由于触摸电极的感测值与相邻触摸电极的感测值连续，因此可使用相邻触摸电极的感测值来相对准确地校正缺陷性触摸电极的感测值。在校正的一个实例中，触摸感测装置可对邻近于缺陷性触摸电极的触摸电极的感测值取平均，借此产生缺陷性触摸电极的感测值。当对沿第一管线X邻近于缺陷性触摸电极的两个触摸电极的感测值取平均且将其用于校正时，可将缺陷性触摸电极的感测值恢复到类似于如由图7中的第三曲线730所指示的正常状态下的值。同样地，当对沿第二管线Y邻近于缺陷性触摸电极的两个触摸电极的感测值取平均且将其用于校正时，缺陷性触摸电极的感测值将可恢复到类似于如由图8中的第六曲线830所指示的正常状态下的值。如上文所描述，触摸感测装置可使用相邻触摸电极的感测值来校正缺陷性触摸电极的感测值，借此以类似于正常面板的触摸坐标的质量来计算触摸坐标。图9说明根据实施例的面板与触摸感测装置的配置。参考图9，触摸感测装置140可包含接收器912、传输器922、存储单元918、坐标计算器920、第一处理器914、第二处理器916以及多个驱动电路950a到驱动电路950e。在此，多个驱动电路950a到驱动电路950e中的每一个可形成集成电路integratedcircuit；IC。接收器912、传输器922、存储单元918、坐标计算器920、第一处理器914以及第二处理器916可包含于一个触摸感测集成电路910中。多个驱动电路950a到驱动电路950e可将驱动信号供应到安置于面板110上的触摸电极，且可使用形成于触摸电极上的响应信号根据驱动信号来产生原始感测值。多个驱动电路950a到驱动电路950e可进一步驱动安置于面板110上的数据线。可将面板110划分为多个感测区A1到感测区A5。多个触摸电极可安置于感测区A1到感测区A5中的每一个中。驱动电路950a到驱动电路950e可各自地驱动感测区A1到感测区A5中的触摸电极。相邻感测区A1到感测区A5可彼此部分地重叠，借此形成重叠区S1到重叠区S4。重叠区S1到重叠区S4可由两个驱动电路950a到驱动电路950e驱动。接收器912可从驱动电路950a到驱动电路950e接收原始感测值。第一处理器914可识别在安置于面板110上的多个触摸电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值。在此，第一感测值可以是由接收器912接收的原始感测值。第一处理器914可识别安置于面板110上的多个触摸电极的原始感测值，且可识别在原始感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值。第一感测值可以是当外部对象不触摸或接近面板110时或当据估计外部对象不触摸或接近时产生的值。通常，据估计在操作开始时，即在将电力供应到触摸感测装置140或面板110后的某一时间内，外部对象不触摸或接近。还可在操作时间期间而不是在操作开始时测量第一感测值。第一处理器914可通过从原始感测值减去先前识别的第一感测值来产生增量值。当增量值的变化小于或等于例如阈值的特定值时，第一处理器914可更新第一感测值。当更新第一感测值时，第一处理器914可通过对在多个帧中获得的原始感测值取平均来更新第一感测值。在此，操作时间可以是当触摸感测装置140产生触摸坐标时的时间，其并非开始时间。当外部对象不触摸或接近面板110时，例如在操作开始时或在增量值小于或等于特定值时，第一处理器914可识别在安置于面板110上的多个触摸电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值。缺陷确定条件可以是例如在触摸电极的感测值与全部触摸电极的第一感测值的平均值之间存在特定差值或相差大于所述特定差值。存储单元918可存储指示对应于缺陷性感测值的触摸电极下文中，称为“缺陷性触摸电极”的信息。举例来说，面板110上的每一触摸电极的位置可经指定为坐标，且存储单元918可存储面板110上的缺陷性触摸电极的坐标。第二处理器916可使用邻近于缺陷性触摸电极的至少一个触摸电极的感测值来校正安置于面板110上的多个触摸电极的第二感测值当中的缺陷性触摸电极的感测值。第二感测值可以是来自去除基极感测值的感测值下文中，称为“D感测值”。触摸感测装置140例如第一处理器914、第二处理器916或第三处理器未示出可使用在外部对象不触摸或接近面板110时所产生的原始感测值来产生基极感测值在第一时间周期内。触摸感测装置140可通过对在外部对象不触摸或接近面板110时所产生的多个原始感测值取平均来产生基极感测值。触摸感测装置140例如，第一处理器914、第二处理器916或第三处理器未示出可在第二时间周期内通过计算原始感测值与安置于面板110上的多个触摸电极的基极感测值之间的差值来产生D感测值。第二处理器916可使用至少一个相邻触摸电极的D感测值来校正缺陷性触摸电极的D感测值。举例来说，第二处理器916可用右方和左方相邻两个触摸电极的D感测值的平均值，用上部和下部相邻两个触摸电极的D感测值的平均值或用右方、左方、上部和下部相邻四个触摸电极的D感测值的平均值来替换缺陷性触摸电极的D感测值。坐标计算器920可使用经校正的D感测值来计算触摸坐标。坐标计算器920可例如通过将最大D感测值和相邻触摸电极的D感测值代入到具体模型或算法中来计算触摸坐标。传输器922可将计算出的触摸坐标传输到另一装置，例如主机，且主机可使用所接收触摸坐标来识别面板110上的用户操作。图10是说明根据示范性实施例的控制触摸感测装置的方法的流程图。参看图10，触摸感测装置例如，第一处理器或第三处理器可测量基极感测值步骤S1000。在此，基极感测值可以是当外部对象不触摸或接近面板时在每一触摸电极上测量的原始感测值。触摸感测装置可通过对从多个帧获得的各别触摸电极的原始感测值取平均来产生基极感测值。触摸感测装置例如第一处理器可使用安置于面板上的多个触摸电极的基极感测值来产生参考感测值步骤S1001。在此，参考感测值可以是用于缺陷确定条件的值。触摸感测装置例如第一处理器可通过对安置于面板上的全部触摸电极的基极感测值取平均来产生参考感测值。替代地，触摸感测装置可通过从全部触摸电极的基极感测值当中选择代表性感测值且对代表性感测值取平均来产生参考感测值。当在基极感测值与参考感测值之间存在特定差值或相差大于所述特定差值时，触摸感测装置例如第一处理器可确定所述基极感测值是缺陷性感测值步骤S1002。触摸感测装置可识别对应于缺陷性感测值的缺陷性触摸电极。触摸感测装置例如存储单元可存储指示在多个触摸电极当中对应于缺陷性感测值的缺陷性触摸电极的缺陷性触摸电极信息步骤S1004。触摸感测装置例如第一处理器、第二处理器或第三处理器可产生D感测值步骤S1005。D感测值是通过从原始感测值去除基极感测值获得的感测值。触摸感测装置可通过获得原始感测值且从原始感测值减去先前存储的基极感测值来产生D感测值。触摸感测装置例如第二处理器可使用邻近于缺陷性触摸电极的至少一个触摸电极的D感测值来校正在安置于面板上的多个触摸电极的D感测值当中对应于缺陷性触摸电极的D感测值步骤S1006。当D感测值中的至少一个D感测值满足触摸确定条件时，触摸感测装置可校正对应于缺陷性触摸电极的D感测值。触摸确定条件可以例如是D感测值大于预设触摸确定值。触摸感测装置例如坐标计算器可使用经校正的D感测值来计算触摸坐标步骤S1008。图11说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第一实例。参考图11，触摸感测装置例如第二处理器可用邻近于缺陷性触摸电极的上部、下部、右方以及左方的四个触摸电极的感测值的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值。在图11的上部触摸图像中，具有对应于3,4的坐标A,B的触摸电极是缺陷性触摸电极。触摸感测装置可用邻近于缺陷性触摸电极的上部、下部、右方以及左方的四个触摸电极的感测值182、147、131以及146的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值，所述四个触摸电极是对应于坐标3,5、3,3、2,4以及4,4的触摸电极。图12说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第二实例。参考图12，作为对应于坐标2,4的触摸电极的缺陷性触摸电极位于多个触摸电极的边缘。在图12的触摸图像中，具有为1的A坐标的部分不包含于触摸坐标中。在这一部分中，可能不存在触摸电极，或可安置有虚设电极。当缺陷性触摸电极安置于所述边缘上时，触摸感测装置例如第二处理器可用与所述边缘平行的邻近于缺陷性触摸电极的两个触摸电极的感测值128和139的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值，所述两个触摸电极是对应于坐标2,3和2,5的触摸电极。图13说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第三实例。参考图13，作为对应于坐标1,1的触摸电极的缺陷性触摸电极位于多个触摸电极的拐角。在图13的触摸图像中，具有为0的A坐标的部分和具有为0的B坐标的部分不包含在触摸坐标中。在这些部分中，可能不存在触摸电极，或可安置有虚设电极。当缺陷性触摸电极安置于所述拐角上时，触摸感测装置例如第二处理器可用在第一方向和第二方向上邻近于缺陷性触摸电极的两个触摸电极的感测值147和149的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值，所述两个触摸电极是对应于坐标1,2和2,1的触摸电极。在此，第一方向与第二方向可彼此垂直。举例来说，第一方向可以是竖直方向，且第二方向可以是水平方向。图14说明根据示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第四实例。参看图14，当作为对应于坐标3,4和3,5的触摸电极的两个缺陷性触摸电极在第一方向例如竖直方向上彼此相邻时，触摸感测装置例如第二处理器可用在垂直于第一方向的第二方向例如水平方向上邻近于缺陷性触摸电极中的每一个的两个触摸电极的感测值的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值。图15说明根据另一示范性实施例的面板与触摸感测装置的配置。参看图15，触摸感测装置1500可包含接收器912、传输器922、内部存储器1518、坐标计算器920、校正处理器1516、外部存储器1522以及多个驱动电路950a到驱动电路950e。在此，多个驱动电路950a到驱动电路950e中的每一个可形成集成电路IC。接收器912、传输器922、内部存储器1518、坐标计算器920以及校正处理器1516可包含于一个触摸感测集成电路1510中。外部存储器1522可安置于触摸感测集成电路1510外部且可将信息提供到触摸感测集成电路1510。多个驱动电路950a到驱动电路950e可将驱动信号供应到安置于面板110上的触摸电极，且可使用形成于触摸电极上的响应信号根据驱动信号来产生原始感测值。驱动信号可以是例如在第一电压与第二电压之间交替的信号。当驱动信号在第一电压与第二电压之间交替时，如果缺陷例如短路出现在触摸电极中，那么具有与第一电压和第二电压不同的电压电平的电压形成于触摸电极上，且相应地触摸电极呈现与正常触摸电极的感测值不同的感测值。接收器912可从驱动电路950a到驱动电路950e接收原始感测值。校正处理器1516可使用邻近于缺陷性触摸电极的至少一个触摸电极的感测值来校正在安置于面板上的多个触摸电极的感测值当中对应于缺陷性触摸电极的感测值。在此，感测值可通过从原始感测值减去基极感测值产生。外部存储器1522可存储指示安置于面板上的多个触摸电极当中的缺陷性触摸电极的信息。校正处理器1516可经由这一信息来识别缺陷性触摸电极且可识别经校正的感测值。各种参数可用于校正处理器1516的计算过程，且这些参数的值可存储于内部存储器1518中。坐标计算器920可使用经校正的感测值来计算触摸坐标。坐标计算器920可例如通过将最大感测值和相邻触摸电极的感测值代入到具体模型或算法中来计算触摸坐标。传输器922可将计算出的触摸坐标传输到另一装置，例如主机，且主机可使用所接收触摸坐标来识别面板110上的用户操作。外部存储器1522可包含能够根据外部输入信号将信息记录在内部单元中的接口。在制造工艺的期间可检测面板110。在这一检测中，可识别面板110的缺陷性触摸电极。在此，检测中所涉及的装置可识别面板110的缺陷性触摸电极，且可经由所述接口将指示缺陷性触摸电极的信息传输到外部存储器1522以记录在外部存储器1522中。在制造工艺的期间，触摸感测装置1500可使用外部存储器1522中记录的信息来校正缺陷性触摸电极。前述示范性实施例展示通过对相邻触摸电极的感测值取平均来校正的缺陷性触摸电极。在替代实施例中，可通过以不同方式处理相邻触摸电极的感测值来校正缺陷性触摸电极。图16说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第一实例。参考图16，触摸感测装置例如第二处理器可通过将缺陷性触摸电极的上部和下部相邻四个触摸电极的感测值代入到B样条等式中来产生第一初始值，可通过将右方和左方相邻四个触摸电极的感测值代入到B样条等式中来产生第二初始值，且可用第一初始值和第二初始值的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值。在图16的上部触摸图像中，具有对应于3,4的坐标A,B的触摸电极是缺陷性触摸电极。触摸感测装置可通过将缺陷性触摸电极的上部和下部相邻四个触摸电极的感测值11、64、146以及71代入到B样条等式中来计算第一初始值，所述四个相邻触摸电极是对应于坐标3,6、3,5、3,3以及3,2的触摸电极。[式1]f1x＝12*|x|3-|x|2+23,0≤|x|1-16*|x|3+|x|2-2*|x|+43,1≤|x|202≤|x|式1是用于计算B样条等式的权重的说明性等式，其中对紧靠缺陷性触摸电极的触摸电极来说可将0.5代入到|x|中，且对于距离缺陷性触摸电极一个触摸电极定位的触摸电极来说可将1代入到|x|中。根据B样条等式的一个实例，四个相邻触摸电极的感测值乘以各别权重f1x且然后相加。因此，第一初始值计算如下。第一初始值＝0.1667*11+0.4792*64+0.4792*146+0.1667*71＝114触摸感测装置可通过将缺陷性触摸电极的右方和左方相邻四个触摸电极的感测值65、136、115以及14代入到B样条等式中来计算第二初始值，所述四个相邻触摸电极是对应于坐标1,4、2,4、4,4以及5,4的触摸电极。根据以上描述的B样条等式，第二初始值计算如下。第二初始值＝0.1667*65+0.4792*136+0.4792*115+0.1667*14＝132触摸感测装置可通过对第一初始值和第二初始值取平均来计算校正值。校正值＝114+1322＝123触摸感测装置可使用校正值来校正缺陷性触摸电极。在参考图17到图19描述的实例中，可通过式1来计算B样条等式的权重。图17说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第二实例。参看图17，作为对应于坐标3,6的触摸电极的缺陷性触摸电极位于触摸电极的边缘。在图17的触摸图像中，具有为7的B坐标的部分不包含于触摸坐标中。在这一部分中，可能不存在触摸电极，或可安置有虚设电极。当缺陷性触摸电极安置于边缘上时，触摸感测装置例如第二处理器可用通过将与边缘并行的邻近于缺陷性触摸电极的四个触摸电极的感测值8、80、105以及67代入到B样条等式中获得的值替换缺陷性触摸电极的感测值，所述四个触摸电极是对应于坐标1,6、2,6、4,6以及5,6的触摸电极。校正值＝0.1667*8+0.4792*80+0.4792*105+0.1667*67＝101图18说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第三实例。参看图18，作为对应于坐标2,6的触摸电极的缺陷性触摸电极位于触摸电极的拐角。在图18的触摸图像中，具有为1的A坐标的部分和具有为7的B坐标的部分不包含在触摸坐标中。在这些部分中，可能不存在触摸电极，或可安置有虚设电极。当缺陷性触摸电极安置于拐角上时，触摸感测装置例如第二处理器可用通过将在第一方向和第二方向上邻近于缺陷性触摸电极的四个触摸电极的感测值109、146、142以及99代入到B样条等式中获得的值替换缺陷性触摸电极的感测值，所述四个触摸电极是对应于坐标2,4、2,5、3,6以及4,6的触摸电极。校正值＝0.1667*109+0.4792*146+0.4792*142+0.1667*99＝172图19说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第四实例。参看图19，当作为对应于坐标3,4和3,5的触摸电极的两个缺陷性触摸电极在第一方向例如竖直方向上彼此相邻时，触摸感测装置例如第二处理器可用通过将在垂直于第一方向的第二方向例如水平方向上邻近于缺陷性触摸电极中的每一个的四个触摸电极的感测值代入到B样条等式中获得的值替换缺陷性触摸电极的感测值。第一坐标3,5的校正值＝0.1667*27+0.4792*117+0.4792*120+0.1667*80＝131第二坐标3,4的校正值＝0.1667*22+0.4792*114+0.4792*120+0.1667*93＝131尽管已说明了通过将四个相邻触摸电极应用到B样条等式来校正缺陷性触摸电极的实例，但应用于B样条等式的触摸电极的数目可根据示范性实施例而改变。在此，还可根据应用于B样条等式的触摸电极的数目来改变用于权重的等式。图20说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第五实例。参考图20，触摸感测装置例如第二处理器可通过将缺陷性触摸电极的上部和下部相邻四个触摸电极的感测值代入到双三次等式中来产生第一初始值，可通过将右方和左方相邻四个触摸电极的感测值代入到双三次等式中来产生第二初始值，且可用第一初始值和第二初始值的平均值来替换缺陷性触摸电极的感测值。在图20的上部触摸图像中，具有对应于3,4的坐标A,B的触摸电极是缺陷性触摸电极。触摸感测装置可通过将缺陷性触摸电极的上部和下部相邻四个触摸电极的感测值11、64、146以及71代入到双三次等式中来计算第一初始值，所述四个相邻触摸电极是对应于坐标3,6、3,5、3,3以及3,2的触摸电极。[式2]f2x＝a+2*|x|3-a+3*|x|2+1,0≤|x|1a*|x|3-5*a*|x|2+8*a*|x|-4*a,1≤|x|212≤|x|式2是用于计算双三次等式的权重的说明性等式，其中对于紧靠缺陷性触摸电极的触摸电极来说可将0.5代入到|x|中，且对于距离缺陷性触摸电极一个触摸电极定位的触摸电极来说可将1代入到|x|中。在式2中，a可以是-0.5。根据双三次等式的一个实例，四个相邻触摸电极的感测值乘以各别权重f2x且接着相加。因此，第一初始值计算如下。第一初始值＝0*11+0.5625*64+0.5625*146+0*71＝118触摸感测装置可通过将缺陷性触摸电极的右方和左方相邻四个触摸电极的感测值65、136、115以及14代入到双三次等式中来计算第二初始值，所述四个相邻触摸电极是对应于坐标1,4、2,4、4,4以及5,4的触摸电极。根据以上描述的双三次等式，第二初始值计算如下。第二初始值＝0*65+0.5625*136+0.5625*115+0*14＝141触摸感测装置可通过对第一初始值和第二初始值取平均来计算校正值。校正值＝118+1412＝129触摸感测装置可使用校正值来校正缺陷性触摸电极。在参考图21到图23描述的实例中，可通过式2来计算双三次等式的权重。图21说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第六实例。参看图21，作为对应于坐标3,6的触摸电极的缺陷性触摸电极位于触摸电极的边缘。在图21的触摸图像中，具有为7的B坐标的部分不包含于触摸坐标中。在这一部分中，可能不存在触摸电极，或可安置有虚设电极。当缺陷性触摸电极安置于边缘上时，触摸感测装置例如第二处理器可用通过将与边缘平行的邻近于缺陷性触摸电极的四个触摸电极的感测值8、80、105以及67代入到双三次等式中获得的值替换缺陷性触摸电极的感测值，所述四个触摸电极是对应于坐标1,6、2,6、4,6以及5,6的触摸电极。校正值＝0*8+0.5625*80+0.5625*105+0*67＝104图22说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第七实例。参看图22，作为对应于坐标2,6的触摸电极的缺陷性触摸电极位于触摸电极的拐角。在图22的触摸图像中，具有为1的A坐标的部分和具有为7的B坐标的部分不包含在触摸坐标中。在这些部分中，可能不存在触摸电极，或可安置有虚设电极。当缺陷性触摸电极安置于拐角上时，触摸感测装置例如第二处理器可用通过将在第一方向和第二方向上邻近于缺陷性触摸电极的四个触摸电极的感测值109、146、142以及99代入到双三次等式中获得的值替换缺陷性触摸电极的感测值，所述四个触摸电极是对应于坐标2,4、2,5、3,6以及4,6的触摸电极。校正值＝0*109+0.5625*146+0.5625*142+0*99＝162图23说明根据另一示范性实施例的触摸感测装置校正缺陷性触摸电极的第八实例。参看图23，当作为对应于坐标3,4和3,5的触摸电极的两个缺陷性触摸电极在第一方向例如竖直方向上彼此相邻时，触摸感测装置例如第二处理器可用通过将在垂直于第一方向的第二方向例如水平方向上邻近于缺陷性触摸电极中的每一个的四个触摸电极的感测值代入到双三次等式中获得的值替换缺陷性触摸电极的感测值。第一坐标3,5的校正值＝0*27+0.5625*117+0.5625*120+0*80＝133第二坐标3,4的校正值＝0*22+0.5625*114+0.5625*120+0*93＝131尽管已说明了通过将四个相邻触摸电极应用到双三次等式来校正缺陷性触摸电极的实例，但应用于双三次等式的触摸电极的数目可根据示范性实施例而改变。在此，还可根据应用于双三次等式的触摸电极的数目改变用于权重的等式。已参考一些示范性实施例描述本公开。根据这些实施例，有可能重新使用包含缺陷性电极的面板同时使质量劣化最小化，借此使由于弃置面板所致的损失最小化。由于除非特意相反地描述，否则如“包含”、“包括”以及“具有”的术语意味着对应元件可能存在，所以应理解，可另外包含其它元件，而非省略此类元件。所有技术、科学或其它术语与如本领域的技术人员所理解的含义一致地使用，除非有相反定义。如词典中所见的普通术语应在有关技术著作的上下文中加以解释，而不应过于理想化或脱离实际，除非本公开明确地对其那样定义。尽管为了说明性目的而描述了本公开的优选实施例，但本领域的技术人员应了解，在不脱离所附权利要求所公开的实施例的范围和精神的情况下，各种修改、添加和替换都是可能的。因此，在本公开中公开的实施例意图说明本公开的技术理念的范围，且本公开的范围不受这些实施例限制。本公开的范围应基于所附权利要求进行解释，其方式为使得包含在与权利要求等效的范围内的所有技术理念属于本公开。

权利要求：1.一种触摸感测装置，包括：第一处理器，配置成识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于所述面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值；存储单元，配置成存储指示在所述多个电极当中对应于所述缺陷性感测值的缺陷性电极的信息；以及第二处理器，配置成使用邻近于所述缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在所述多个电极的第二感测值当中对应于所述缺陷性电极的感测值，其中所述多个电极的所述第二感测值是当存在触摸或所述外部对象接近所述面板时的感测值。2.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中所述第一处理器在操作开始时识别所述缺陷性感测值。3.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中所述第一处理器在操作开始时使用从驱动电路接收的原始感测值来产生所述第一感测值，且在操作时间期间识别当所述原始感测值与所述第一感测值之间的差值是特定值或小于所述特定值时的所述缺陷性感测值。4.根据权利要求3所述的触摸感测装置，其中在所述操作时间期间，当所述原始感测值与所述第一感测值之间的所述差值是所述特定值或小于所述特定值时，所述第一处理器通过对从多个帧获得的所述原始感测值取平均来更新所述第一感测值。5.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中当所述第二感测值当中的至少一个感测值满足触摸确定条件时，所述第二处理器校正对应于所述缺陷性电极的所述感测值。6.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中所述第一处理器通过对从多个帧获得的各别电极的感测值取平均来产生所述第一感测值。7.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中所述第一处理器从所述第一感测值当中选择代表性感测值，且将所述第一感测值当中与所述代表性感测值的平均值相差特定值或相差大于所述特定值的感测值识别作为所述缺陷性感测值。8.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中当多个所述缺陷性电极在第一方向上彼此相邻时，所述第二处理器用在垂直于所述第一方向的第二方向上的两个相邻电极的感测值的平均值来替换每一缺陷性电极的所述感测值。9.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的边缘处时，所述第二处理器用与所述边缘平行的两个相邻电极的感测值的平均值来替换所述缺陷性电极的所述感测值。10.根据权利要求1所述的触摸感测装置，其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的拐角中时，所述第二处理器用第一方向和第二方向上的两个相邻电极的感测值的平均值来替换所述缺陷性电极的所述感测值。11.一种触摸感测装置，包括：存储器，配置成存储指示安置于面板上的多个电极当中的缺陷性电极的信息；校正处理器，配置成使用邻近于所述缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在所述多个电极的感测值当中对应于所述缺陷性电极的感测值；以及坐标计算器，配置成使用经校正的所述感测值来计算触摸坐标，其中所述校正处理器和所述坐标计算器安置于集成电路中。12.根据权利要求11所述的触摸感测装置，其中当存在邻近于所述缺陷性电极的上部、下部、右方以及左方的四个电极时，所述校正处理器用通过将所述四个电极的感测值代入到b样条等式中所获得的值替换所述缺陷性电极的所述感测值。13.根据权利要求11所述的触摸感测装置，其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的边缘处时，所述校正处理器用通过将与所述边缘平行的四个相邻电极的感测值代入到双三次等式中所获得的值替换所述缺陷性电极的所述感测值。14.根据权利要求11所述的触摸感测装置，其中所述存储器包括配置成根据外部输入的信号将所述信息记录在内部单元中的接口。15.根据权利要求11所述的触摸感测装置，其中集成显示面板与触摸面板以形成所述面板。16.根据权利要求11所述的触摸感测装置，进一步包括：接收器，配置成从多个驱动集成电路接收所述多个电极的所述感测值，所述多个驱动集成电路单独地按区域来驱动所述多个电极。17.根据权利要求16所述的触摸感测装置，其中所述驱动集成电路将在第一电压与第二电压之间交替的驱动信号供应到所述电极，且根据对应于所述驱动信号的形成于所述电极上的响应信号来产生所述电极的所述感测值，且具有与所述第一电压和所述第二电压不同的电压电平的电压形成于所述缺陷性电极上。18.根据权利要求11所述的触摸感测装置，其中所述存储器安置于所述集成电路的外部。

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