申请/专利权人：深圳市宗匠科技有限公司

申请日：2024-01-12

公开（公告）日：2024-05-17

公开（公告）号：CN117593780B

主分类号：G06V40/16

分类号：G06V40/16;G06V10/30

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.05.17#授权;2024.03.12#实质审查的生效;2024.02.23#公开

摘要：本发明公开了一种皱纹深度指数确定方法、装置、电子设备及存储介质；该方法包括：获取待处理图像，对待处理图像进行皱纹检测确定皱纹；计算皱纹的面积和偏心率，基于皱纹的面积和偏心率对皱纹进行过滤，确定目标皱纹，其中，偏心率根据所述皱纹的宽度和高度确定；针对每个目标皱纹，确定目标皱纹的至少一个横截面，对于目标皱纹的每个横截面，提取横截面的像素点的像素值，基于各像素值确定所述像素点的一阶导数，根据各像素点的一阶导数计算横截面的高度差，基于高度差确定所述横截面对应的皱纹深度指数，基于各横截面的皱纹深度指数确定所述目标皱纹的皱纹深度指数，解决了无法判断皱纹深度的问题，准确计算皱纹深度指数，以便判断皱纹深度。

主权项：1.一种皱纹深度指数确定方法，其特征在于，包括：获取待处理图像，对所述待处理图像进行皱纹检测确定皱纹；计算所述皱纹的面积和偏心率，基于所述皱纹的面积和偏心率对所述皱纹进行过滤，确定目标皱纹，其中，所述偏心率根据所述皱纹的宽度和高度确定；针对每个目标皱纹，确定所述目标皱纹的至少一个横截面，对于所述目标皱纹的每个横截面，提取所述横截面的像素点的像素值，基于各所述像素值确定所述像素点的一阶导数，根据各所述像素点的一阶导数计算横截面的高度差，基于所述高度差确定所述横截面对应的皱纹深度指数，基于各所述横截面的皱纹深度指数确定所述目标皱纹的皱纹深度指数；计算所述皱纹的偏心率，包括：计算所述皱纹的宽度的平方得到第一平方，计算所述皱纹的高度的平方得到第二平方；将所述第一平方和所述第二平方的和进行开平方，确定算术平方根；将所述算术平方根与皱纹的宽度的比值确定为偏心率；所述根据各所述像素点的一阶导数计算横截面的高度差，包括：比较各所述像素点的一阶导数，按照预设数量选择一阶导数的绝对值最小的像素点作为候选像素点；将所述候选像素点划分到第一像素点集合和第二像素点集合中；根据所述第一像素点集合中的第一候选像素点的像素值计算第一像素值，根据所述第二像素点集合中的第二候选像素点的像素值计算第二像素值；将所述第一像素值与所述第二像素值的差值确定为高度差；所述基于所述高度差确定所述横截面对应的皱纹深度指数，包括：计算所述高度差与皱纹深度参数的比值；将所述比值与设定系数的乘积确定为横截面的皱纹深度指数。

全文数据：

权利要求：

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