申请/专利权人：泰克诺探头公司

申请日：2018-11-06

公开（公告）日：2020-06-26

公开（公告）号：CN111344578A

主分类号：G01R1/067(20060101)

分类号：G01R1/067(20060101);G01R1/073(20060101)

优先权：["20171109 IT 102017000128116"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.09.29#授权;2020.11.06#实质审查的生效;2020.06.26#公开

摘要：一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针10，包括在第一端部10a和第二端部10b之间沿纵向轴线H‑H延伸的主体10’，第二端部10b适于接触被测器件的垫11。适当地，接触探针10包括第一区段S1和第二区段S2，第一区段S1从第一端部10a沿纵向轴线H‑H延伸并且由非导电材料制成，并且第二区段S2沿纵向轴线H‑H从第二端部10b向上延伸至第一区段S1，第二区段S2是导电的并且延伸的距离小于1000μm。

主权项：1.一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针10，所述接触探针10包括沿纵向轴线H-H在第一端部10a和第二端部10b之间延伸的主体10’，所述第二端部10b适于接触被测器件的多个垫11，其特征在于，所述接触探针10包括第一区段S1和第二区段S2，所述第一区段S1沿所述纵向轴线H-H从所述第一端部10a延伸并且由非导电材料制成，所述第二区段S2沿所述纵向轴线H-H从所述第二端部10b向上延伸至所述第一区段S1，所述第二区段S2是导电的并且延伸的距离小于1000μm。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 泰克诺探头公司 用于测试高频装置的测试头的接触探针

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