申请/专利权人：西安交通大学

申请日：2020-06-22

公开（公告）日：2020-10-16

公开（公告）号：CN111781445A

主分类号：G01R31/00(20060101)

分类号：G01R31/00(20060101);G01R29/08(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.05.06#授权;2020.11.03#实质审查的生效;2020.10.16#公开

摘要：本发明公开了一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统与方法，该系统包括射频信号源、射频功分器、恒压电压源、半导体参数测试仪、矩阵开关、上位机、辐照测试板以及测试样品板；射频信号源提供任意频率和幅值的电磁干扰信号，经过一分多射频功分器注入到多个测试样品之中；恒压电压源通过半导体参数测试仪为测试样品提供偏置电压；半导体参数测试仪通过矩阵开关可以同时连接多个测试样品，并为其设置不同偏置状态；通过上位机程序操控半导体参数测试仪，设置不同测试任务及为测试样品设置不同参数，完成参数测试；测试样品固定于辐照测试板上放置在辐照间接受粒子辐照；从而实现了辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应的测试。

主权项：1.一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统，其特征在于：该测试系统包括射频信号源、射频功分器、恒压电压源、半导体参数测试仪、矩阵开关、上位机、辐照测试板以及测试样品；所述测试样品固定于辐照测试板上；辐照测试板放置于辐照测试间内；测试样品通过矩阵开关与半导体参数测试仪连接；矩阵开关在上位机控制下进行信号连接切换；恒压电压源通过半导体参数测试仪为测试样品提供偏置电压；半导体参数测试仪在上位机控制下完成参数测试任务；射频信号源为测试样品提供电磁干扰信号；射频功分器将一路电磁干扰信号等分为多路信号，用于多个测试样品。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安交通大学 一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统与方法

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