申请/专利权人：光焱科技股份有限公司

申请日：2019-10-24

公开（公告）日：2021-04-27

公开（公告）号：CN112710389A

主分类号：G01J3/02(20060101)

分类号：G01J3/02(20060101);G01J3/28(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.05.14#实质审查的生效;2021.04.27#公开

摘要：一种光侦测装置，适用于侦测光源发出的一个具有强度变化的待测光。该光侦测装置包含阵列式光谱仪、光电探测器，及中控单元。该阵列式光谱仪适用于侦测该待测光的一个强光部分，并输出一个第一侦测讯号。该光电探测器位于该阵列式光谱仪旁，适用于侦测该待测光的一个弱光部分，并输出一个第二侦测讯号。该中控单元包括运算模块，该运算模块将该第一侦测讯号与该第二侦测讯号进行运算整合，以取得一个相关于该待测光的光强度变化。本发明可用于侦测该光源发出的连续、多重变化的待测光，而且侦测快速且灵敏度高。

主权项：1.一种光侦测装置，适用于侦测光源发出的一个具有强度变化的待测光，其特征在于，该光侦测装置包含：阵列式光谱仪，适用于侦测该待测光的一个强光部分，并输出一个第一侦测讯号；光电探测器，位于该阵列式光谱仪旁，适用于侦测该待测光的一个弱光部分，并输出一个第二侦测讯号；及中控单元，讯号连接该阵列式光谱仪与该光电探测器，该中控单元包括运算模块，该运算模块将该第一侦测讯号与该第二侦测讯号进行运算整合，以取得一个相关于该待测光的光强度变化。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 光焱科技股份有限公司 光侦测装置

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