申请/专利权人：深圳市焦点数字科技有限公司

申请日：2020-09-27

公开（公告）日：2021-05-07

公开（公告）号：CN213149125U

主分类号：G01R31/00(20060101)

分类号：G01R31/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.05.07#授权

摘要：本实用新型公开了一种数字机芯多功能老化测试模块，包括处理器模块、16路LVDSKEL座模块、切换开关模块、LVDS转BT1120模块，LCD显示模块、存储模块、电源模块、信息输出模块、FLASH模块及DDR模块，处理器与LVDS转BT1120双向连接，LVDS转BT1120与切换开关双向连接，切换开关与16路LVDSKEL座双向，处理器与LCD显示双向连接，处理器与存储双向连接，处理器与信息输出双向连接。本实用新型具有如下有益效果：提供至多16路数字机芯LVDS视频接入测试，可满足数字机芯关于LVDS信号输出的生产测试。通过图像分析的手段，判定输入的数字信号是否正常，并作记录。

主权项：1.一种数字机芯多功能老化测试模块，其特征在于，包括处理器模块、16路LVDSKEL座模块、切换开关模块、LVDS转BT1120模块，LCD显示模块、存储模块、电源模块、信息输出模块、FLASH模块以及DDR模块，所述电源模块给处理器模块供电，所述处理器模块与LVDS转BT1120模块双向连接，所述LVDS转BT1120模块与切换开关模块双向连接，所述切换开关模块与16路LVDSKEL座模块双向，所述处理器模块与LCD显示模块双向连接，所述处理器模块与存储模块双向连接，所述处理器模块与信息输出模块双向连接，所述处理器模块与FLASH模块双向连接，所述处理器模块与DDR模块双向连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市焦点数字科技有限公司 一种数字机芯多功能老化测试模块

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD