申请/专利权人：苏州三姆森光电科技有限公司

申请日：2021-09-16

公开（公告）日：2022-06-28

公开（公告）号：CN113884020B

主分类号：G01B11/24

分类号：G01B11/24;G01B11/02;G01B11/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.06.28#授权;2022.01.21#实质审查的生效;2022.01.04#公开

摘要：本发明涉及尺寸测量领域，具体提供了一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，包括如下步骤；对应各边缘设置基准块；使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度后依次扫描第一边缘和第二边缘；然后再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转后依次扫描第二边缘与第四边缘；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3；获取第一特征点P1到第一基准面的距离a，获取第二特征点P3到第二基准面的距离b；根据距离a、b、以及基准块之间的距离d获取第一边缘到第二边缘的距离c；以相同的方法获取第三边缘到第四边缘的距离c’。本发明能够提高对产品内部尺寸的管控精度，并提高测量精度。

主权项：1.一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，该3C产品依次包括第一边缘、第三边缘、第二边缘和第四边缘，第一边缘与第二边缘相对，第三边缘与第四边缘相对；其特征在于，包括如下步骤：对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，对应第三边缘设置第三基准块，对应第四边缘设置第四基准块；所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，所述第三基准块包括第五基准面，所述第四基准块包括第六基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d，第五基准面到第六基准面的距离为d’；使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度；利用3D轮廓仪依次扫描第一边缘与第三边缘，并同步扫描第一基准块与第三基准块；再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转，使3D轮廓能够扫描到第二边缘；利用3D轮廓仪依次扫描第二边缘与第四边缘，并同步扫描第二基准块与第四基准块；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3；获取第一特征点P1到第一基准面的距离a，获取第二特征点P3到第二基准面的距离b；根据距离a、b、d获取第一边缘到第二边缘的距离c；获取第三边缘到第四边缘的距离c’的方法与获取第一边缘到第二边缘的距离c的方法原理相同；所述获取第一特征点P1到第一基准面的距离a包括：获取3D轮廓仪的数值中心点O；获取数值中心点O到第一基准面的距离S1；获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，其中第一辅助面与第一基准面平行且经过第一特征点P1；获取距离a；所述获取数值中心点O到第一基准面的距离S1以及获取数值中心到第一辅助面的距离S2包括：获取当前3D轮廓仪的倾斜角度θ1，其中θ1为3D轮廓仪的激光与第一基准块的第三基准面所形成的夹角；获取3D轮廓仪扫描的第一特征点P1的坐标值P1x1a，h1a，获取同一时刻扫描第一基准面时的任意点P2，及点P2的坐标值P2x2a，h2a；获取齐次变换矩阵，利用齐次变换矩阵获取第一特征点P1以及任意点P2的变换后的坐标值，Q1x1，h1,Q2x2，h2；获取数值中心点O到第一基准面的距离S1，S1＝h1*cosθ1+x1*sinθ1；获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，S2＝h2*cosθ1+x2*sinθ1。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州三姆森光电科技有限公司 一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD