申请/专利权人：中国科学技术大学

申请日：2022-03-11

公开（公告）日：2022-07-29

公开（公告）号：CN114814692A

主分类号：G01R35/00

分类号：G01R35/00;G01R31/3185

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.08.16#实质审查的生效;2022.07.29#公开

摘要：本发明的一种基于相控阵芯片状态RMS误差计算的自校准方法、存储介质，包括一种用于相控阵芯片的相位和幅度自校准算法电路，所述包括状态扫描单元、状态筛选单元、CORDIC计算单元、存储单元、控制单元、SPI单元和查找表单元；存储单元用来存储相控阵芯片所有状态的相位信息、增益信息、目标状态控制字和目标状态误差信息。本发明采用CORDIC算法来计算相控阵芯片所有目标状态的RMS误差，保证相控阵芯片幅度和相位校准后相控阵芯片有更精准的相位分辨率和增益分辨率，从而使校准后的相控阵芯片有更好的波束成形能力和更高的波束导向精度。本发明极大地节省了LUT的生成时间，采用全流水线的形式，可以去掉存储单元中的状态信息存储，实现对所有目标状态同时校准，节省存储资源。

主权项：1.一种基于相控阵芯片状态RMS误差计算的自校准方法，用于相控阵芯片相位和幅度自校准系统，其特征在于，包括一种基于扫描相控阵状态信息同时筛选目标状态及计算相控阵系统芯片所有目标状态RMS误差的自校准算法电路；所述自校准算法电路包括扫描单元、CORDIC计算单元、存储单元、归一化处理单元、误差计算单元、状态筛选单元、控制单元、SPI接口和LUT；扫描单元根据校准模式不同，设置不同的VGA控制字扫描所有相控阵芯片的相位增益状态，并控制ADC采集自测试接受机量化后的IQ信号；CORDIC计算单元根据I和Q信号的幅度计算每个状态的相位和增益，把每个状态的相位和增益以定点的方式存储到存储单元；至此扫描阶段结束，自校准算法电路进入筛选阶段；筛选出符合误差要求的状态，并生成一张查找表；通过SPI来实现相控阵芯片的控制；其中，自校准方法包括以下步骤，S100、根据不同的校准模式，扫描相控阵芯片的所有相位增益状态，采集IQ信号矢量幅度，并计算所有状态的相位和增益，存储到存储单元；S200、选取一个状态作为参考状态，把所有状态的相位和幅度信息输入到归一化处理电路，之后进入误差计算单元，误差计算单元进行目标状态地址和误差的计算，筛选电路根据计算的结果筛选出校准后的目标状态，并通过CORDIC计算RMS误差；S300、满足误差要求即代表校准成功，否则重新选取参考状态，重复步骤S200；校准成功后，把校准后的目标状态的VGA控制字存储到LUT，并输出校准完成信号和校准状态；S400、外部设备接受到校准完成信号，读取校准状态，通过SPI发送校准状态地址，自校准电路输出对应的状态控制字。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学技术大学 基于相控阵芯片状态RMS误差计算的自校准方法、存储介质

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