申请/专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司

申请日：2022-02-28

公开（公告）日：2022-08-30

公开（公告）号：CN114974385A

主分类号：G11C29/00

分类号：G11C29/00;G11C29/56

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.09.16#实质审查的生效;2022.08.30#公开

摘要：本发明涉及自动化测试系统技术领域，具体为一种基于ATEtrim分卡测试存储数据的优化方案，在测试针卡上安装flash芯片，由测试机资源控制所述flash芯片数据的写入和读取，所述测试机资源程序从prober上读取到的晶圆数据转化为二进制数，本发明与现有技术相比，通过在针卡上安装一颗flash存储芯片，在测试时将晶圆上每一颗修调前的数据保存在芯片中，极大的确保了数据的准确性。保证了读取到的修调数据的完整准确，确保了产品量产的良率。

主权项：1.一种基于ATEtrim分卡测试存储数据的优化方案，其特征在于，在测试针卡上安装flash芯片，由测试机资源控制所述flash芯片数据的写入和读取，所述测试机资源程序从prober上读取到的晶圆数据转化为二进制数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海华岭集成电路技术股份有限公司 一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案

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