申请/专利权人：美格纳半导体有限公司

申请日：2023-06-16

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN117917737A

主分类号：G11C29/18

分类号：G11C29/18;G11C29/24

优先权：["20221021 KR 10-2022-0136525"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.23#公开

摘要：提供了用于使用串行接口方法来检测存储器中的故障单元并用冗余单元替换故障单元的存储器修复装置。该存储器修复装置包括修复信息控制块和至少一个存储器块，所述存储器块包括至少一个存储器。修复信息控制块被配置成针对每个存储器块执行内置自测试BIST，并且当故障单元根据BIST被检测到时，接收并存储关于故障单元信息的修复信息。存储器块在存储器操作的时候根据由修复信息控制块加载的修复信息用冗余单元替换故障单元。使用串行接口在修复信息控制块与存储器块之间传送和接收数据。

主权项：1.一种存储器修复装置，包括：至少一个存储器块，所述存储器块包括至少一个存储器；以及修复信息控制块，其被配置成：针对每个存储器块执行内置自测试BIST，以及当作为所述BIST的结果检测到故障单元时，接收与所述故障单元有关的修复信息并将所述与所述故障单元有关的修复信息存储在修复信息存储块中，并且其中，所述存储器块被配置成在所述存储器的操作期间，当所述存储器块加载所述修复信息时，根据所述修复信息用冗余单元修复所述故障单元。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美格纳半导体有限公司 存储器修复装置

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