申请/专利权人：海太半导体(无锡)有限公司

申请日：2021-04-28

公开（公告）日：2022-10-28

公开（公告）号：CN115248901A

主分类号：G06F16/958

分类号：G06F16/958;G06F9/451;G06F16/9538;H04L67/06

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.11.15#实质审查的生效;2022.10.28#公开

摘要：本发明提供一种半导体测试信息了解的不良分析系统，压缩了数据从产生到用户的过程步骤，简历新的电算服务器，并且治愈性制造相关的数据，提升了数据运行的效率；包括以下步骤：S1：数据获取；S2：原始数据测试；S3：通过FTP传输；S4：对于无用的数据进行忽略；对于有用的数据，上传至服务器；S5：在终端呈现数据。本发明的有益效果：1、节省时间；2、分析能力强；3、大数据处理能力。

主权项：1.一种半导体测试信息了解的不良分析系统，包括以下步骤：S1：数据获取；S2：原始数据测试；S3：通过FTP传输；S4：对于无用的数据进行忽略；对于有用的数据，上传至服务器；S5：在终端呈现数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 海太半导体(无锡)有限公司 一种半导体测试信息了解的不良分析系统

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