申请/专利权人：电子科技大学

申请日：2022-07-16

公开（公告）日：2022-11-25

公开（公告）号：CN115392343A

主分类号：G06K9/62

分类号：G06K9/62;G06N20/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.12.13#实质审查的生效;2022.11.25#公开

摘要：本发明公开了一种高时间分辨率空间无缝气溶胶光学厚度填补方法，属于气溶胶光学厚度填补技术领域。本发明将静止轨道卫星气溶胶光学厚度产品分解为线性分量和非线性分量，其中线性分量的求解思想是求解再分析资料与卫星反演气溶胶光学厚度产品在不同地表覆盖类型上的线性关系，并基于该线性关系对再分析资料进行校正；将校正后的线性分量与卫星气溶胶光学厚度作差，得到有效观测像元的非线性分量，利用机器学习模型去映射非线性分量与影响因子之间的相关关系，并将该关系用于非有效观测像元，获取空间无缝的非线性分量；最后将线性分量与非线性分量叠加，得到空间无缝的气溶胶光学厚度。

主权项：1.一种高时间分辨率空间无缝气溶胶光学厚度填补方法，其特征在于，包括下列步骤：步骤1，在低空间分辨率下训练气溶胶光学厚度影响因子与气溶胶光学厚度的回归模型： 其中，表示回归模型拟合得到的低空间分辨率气溶胶光学厚度，kernellow表示低空间分辨率气溶胶光学厚度影响因子，f表示低空间分辨率下各输入变量的降尺度映射关系；定义低分辨率下原始气溶胶光学厚度与回归模型拟合得到的气溶胶光学厚度间的残差ΔAODlow为：其中，AODlow表示低分辨率的原始气溶胶光学厚度；将低空间分辨率下训练好的回归模型应用于高空间分辨率，得到预测的高分辨率气溶胶光学厚度结果其中，kernelhigh表示高空间分辨率的气溶胶光学厚度影响因子；将ΔAODlow通过双线性方法采样到高空间分辨率，得到高空间分辨率残差ΔAODhigh；根据公式得到单个降尺度模型结果AODhigh；步骤2，线性分量估算：基于最小二乘法拟合再分析资料气溶胶光学厚度与卫星气溶胶光学厚度间的线性关系：AODLC,i＝Ai·AODmerra2,i+Bi；其中，AODLC,i表示某地表覆盖类型上的线性分量，Ai、Bi分别为某地表覆盖类型上拟合得到线性关系的斜率和截距，AODmerra2,i表示某地表覆盖类型上的再分析资料气溶胶光学厚度；i表示不同的地表覆盖类型；步骤3，非线性分量估算：利用机器学习算法对非线性分量及其影响因子之间的关系进行映射，得到非缺失值像元处的映射关系：AODNC-clr,j＝RFjΦ+εj，其中，Φ表示非线性分量的影响因子，j表示不同地方时，εj表示地方时为j时的残差，RFj表示非线性分量及其影响因子之间的映射关系；根据公式AODNC-gap-filled,j＝RFjΦ+εj计算地方时j时缺失像元处的气溶胶光学厚度非线性分量的预测值AODNC-gap-filled,j；步骤4，叠加估算的线性分量和非线性分量，得到空间无缝气溶胶光学厚度估算：AODNC-gap-filled,j＝Ai·AODmerra2,i+Bi+RFjΦ+εj其中，AODNC-gap-filled,j表示填补后气溶胶光学厚度，从而获得填补后的高时间分辨率、空间无缝气溶胶光学厚度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 电子科技大学 一种高时间分辨率空间无缝气溶胶光学厚度填补方法

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