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【发明公布】一种LED灯芯缺陷检测方法_苏州迈创信息技术有限公司_202211611872.2 

申请/专利权人:苏州迈创信息技术有限公司

申请日:2022-12-15

公开(公告)日:2023-01-13

公开(公告)号:CN115601367A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06V10/762

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.04.07#授权;2023.02.07#实质审查的生效;2023.01.13#公开

摘要:本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种LED灯芯缺陷检测方法,该方法通过采集有多个LED灯的LED灯芯图像,对获取的LED灯芯图像基于灰度值进行聚类,获取LED灯芯图像中的高亮区域;根据高亮区域确定单个LED灯芯的子区域;获取每个子区域对应的初始分割阈值,根据初始分割阈值获得初始二值图像,基于初始二值图像获取边缘像素点的梯度值和LED灯芯的分割面积,构建调整目标函数;基于调整目标函数,利用模拟退火算法获取每个子区域的最终分割阈值;通过最终分割阈值,得到最终二值图像;将最终二值图像与标准二值图像进行模板图像匹配,以完成LED灯芯的缺陷检测。本发明通过局部阈值分割提高了缺陷检测的精度。

主权项:1.一种LED灯芯缺陷检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:采集至少存在两个LED灯的LED灯芯图像,获取所述LED灯芯图像对应的灰度图像,基于每个像素点的灰度值对所述灰度图像进行聚类,得到至少两个类别,根据每个类别对应的灰度值的平均值获取高亮区域,根据高亮区域确定单个LED灯芯的子区域;分别获取每个子区域的初始分割阈值,基于初始分割阈值获取每个子区域对应的初始二值图像,初始二值图像中背景对应的像素点的灰度值为0,LED灯芯对应的像素点的灰度值为1,根据初始二值图像中灰度值为1的像素点的数量得到LED灯芯的分割面积;对当前子区域的初始二值图像进行边缘检测得到当前子区域的边缘像素点,根据每个边缘像素点周围其他像素点的灰度值获取对应边缘像素点的梯度值,根据所述梯度值获取每个所述边缘像素点的不良分割率,将每个边缘像素点的所述不良分割率进行相加得到当前子区域的整体不良分割率;结合所述整体不良分割率和当前子区域的LED灯芯的分割面积构建当前子区域的初始分割阈值的调整目标函数;基于调整目标函数,利用模拟退火算法获取当前子区域的最终分割阈值;根据最终分割阈值对相对应的子区域进行分割,得到最终二值图像,将所述最终二值图像与标准二值图像进行模板图像匹配,得到匹配度,基于匹配度完成LED灯芯的缺陷检测。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州迈创信息技术有限公司 一种LED灯芯缺陷检测方法

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