申请/专利权人：福建兆元光电有限公司

申请日：2022-07-08

公开（公告）日：2023-03-17

公开（公告）号：CN218647090U

主分类号：G01R31/12

分类号：G01R31/12;G01R31/26;G01R1/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.17#授权

摘要：本实用新型涉及LED照明领域，尤其涉及一种Wafer片绝缘性测量装置，包括工作台和探针；所述工作台上设有Wafer片定位座、调节机构和电源；所述探针设置在调节机构上；所述探针朝向Wafer片定位座设置。本实用新型提供的Wafer片绝缘性测量装置相较于传统的测试方式，节省了人力物力，提高了测量精度。

主权项：1.一种Wafer片绝缘性测量装置，其特征在于，包括工作台和探针；所述工作台上设有Wafer片定位座、调节机构和电源；所述探针设置在调节机构上；所述探针朝向Wafer片定位座设置；所述调节机构包括底座、第一电机、第一螺杆、第一移动座、第二电机、第二螺杆、第二移动座、第三电机、第三螺杆和第三移动座，所述底座设置在所述工作台上，所述第一电机设置在所述底座上，所述第一电机与所述第一螺杆连接，所述第一移动座与所述底座滑动连接，所述第一移动座与所述第一螺杆螺纹配合，所述第二电机设置在所述第一移动座上，所述第二电机与所述第二螺杆连接，所述第二移动座与所述第一移动座滑动连接，所述第二移动座与所述第二螺杆螺纹配合，所述第三电机设置在所述第二移动座上，所述第三电机与所述第三螺杆连接，所述第三移动座与所述第二移动座滑动连接，所述第三移动座与所述第三螺杆螺纹配合，所述第一螺杆、第二螺杆和第三螺杆相互垂直，所述探针设置在所述第三移动座上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 福建兆元光电有限公司 一种Wafer片绝缘性测量装置

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