申请/专利权人：华南理工大学

申请日：2023-03-01

公开（公告）日：2023-06-02

公开（公告）号：CN116203048A

主分类号：G01N23/02

分类号：G01N23/02;B82Y30/00;G01B11/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.20#实质审查的生效;2023.06.02#公开

摘要：本发明涉及一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法，利用微米级标记物定位的纳米级目标样品的寻回方法。本发明方法通用于各种品牌、型号的TEM仪器以及坐标支持膜载网，无需设计特殊图案，仅需测试前在已经装有目标样品的载网上添加惰性的标记物即可实现纳米级目标的定位与寻回。对于各种品牌、型号的坐标载网和TEM设备具有通用性；寻回目标位置基于坐标载网与微米级标记物，寻回精度高，效率高，成本低，操作简单，实用性强，选用的坐标载网的目数与市面上大多数商用透射电镜最大的视野范围相匹配，即坐标载网的周期网格小于TEM最大视野，在TEM视野中至少能显示一个完整周期，因此目标所在的大网格可以被准确锁定。

主权项：1.一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：加入惰性标记物将纳米颗粒目标样品滴加在载网上，将惰性标记物分散在分散剂中，滴加在载网上，将载网放置在的烘箱或真空烘箱中，挥发掉分散剂；步骤二：首次观察将载有惰性标记物与目标样品的载网装在透射电镜样品杆上后，装载入透射电镜，待真空抽好后，进行观察；步骤三：定位找到目标样品，在透射电镜lowmag模式下，确认目标样品所在载网的坐标网格，并拍照记录，记为图片A；将惰性标记物与目标样品上需要标记的位置置于同一视野中，测量目标位置的特征点到惰性标记物的距离，标记在图片中，并记录为图片C；在透射电镜lowmag模式下，记录惰性标记物与坐标载网的网格线之间的距离，将坐标网格的至少一条边与惰性标记物置于同一视野中，测量惰性标记物的两个端点到距离其最近的坐标网格线的距离，并在图片中标出，并记录为图片B；步骤四：寻回将上述载网装入TEM样品杆中，先在lowmag模式下找到目标样品所在的坐标网格，调节Zfocus，使载网在wobble模式下稳定不晃动；将步骤三中所拍摄的图片A旋转角度α角度，使其与当下视野中的坐标网格方向重合，将步骤三所图片B进行与图片A同步的旋转α角度，根据步骤三图片B中所测量的惰性标记物与坐标载网的网格线之间的位置关系找到惰性标记物；将步骤三中记录的惰性标记物与目标样品之间的位置关系的图片C与图片A同步的旋转α角度，并根据步骤三图片B中惰性标记物与目标样品之间的位置关系及距离寻回目标样品。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华南理工大学 一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法

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