申请/专利权人：华虹半导体(无锡)有限公司;上海华虹宏力半导体制造有限公司

申请日：2023-03-10

公开（公告）日：2023-06-23

公开（公告）号：CN116309419A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/62;G06F30/398

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.07.11#实质审查的生效;2023.06.23#公开

摘要：本申请公开了一种针对DRC错误特征图形的快速检查方法，包括：在DRC运行完成后，读取结果报告，所述结果报告中记录有当前设计规则编号和报错区域的坐标点信息；基于所述当前设计规则编号，识别出对应的当前标记图形；基于所述坐标点信息，生成虚拟报错图形；判断所述虚拟报错图形和当前标记图形之间的关系是否满足预设有的判定条件基于判定结果，生成针对所述结果报告的图形对比报告。本申请通过采用上述技术方案，实现了对DRC错误特征图形的运行结果的快速自动检查。

主权项：1.一种针对DRC错误特征图形的快速检查方法，其特征在于，包括：在DRC运行完成后，读取结果报告，所述结果报告中记录有当前设计规则编号和报错区域的坐标点信息；基于所述当前设计规则编号，识别出对应的当前标记图形；基于所述坐标点信息，生成虚拟报错图形；判断所述虚拟报错图形和当前标记图形之间的关系是否满足预设有的判定条件；基于判定结果，生成针对所述结果报告的图形对比报告。

全文数据：

权利要求：

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