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【发明授权】一种检测与调整衍架导轨平行度的方法_中国科学院光电技术研究所_202210295309.2 

申请/专利权人:中国科学院光电技术研究所

申请日:2022-03-24

公开(公告)日:2023-09-19

公开(公告)号:CN114608486B

主分类号:G01B11/27

分类号:G01B11/27

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.09.19#授权;2022.06.28#实质审查的生效;2022.06.10#公开

摘要:本发明公开了一种检测与调整衍架导轨平行度的方法,提高了这种分节桁架导轨在空间位置上平行度的检测精度。本发明借助激光跟踪仪首先调整了中间那根分节桁架导轨的直线度,然后以它的一端作为坐标原点建立空间坐标系,进而根据空间坐标调整左右两根分节桁架导轨各自的直线度和与中间那根的平行度,最后再重新复测三根分节桁架导轨的平行度。本发明借助激光跟踪仪的高精度,进而提高分节桁架导轨在空间位置上平行度的检测精度,而且操作简单,大大节约了时间成本。

主权项:1.一种检测与调整衍架导轨平行度的方法,其特征在于:它按以下步骤实现:步骤一,将左中右三根分节导轨平行装在桁架上;三根分节导轨间隔1m,以中心导轨为基准,两侧导轨与中心导轨平行度误差不超过2mm;其中,左中右每根导轨长9m,由3根长3m的分节导轨组成;步骤二,打开激光跟踪仪,靶球放置在地面采集三个点,拟合成一个平面,靶球放置在中间导轨的A、B两点,拟合成一条直线;步骤三,建立空间坐标系,与地面平面平行的平面为XY平面,垂直该平面为Z轴,A点为坐标原点,AB直线方向为Y轴方向;步骤四,A、B点固定,调整中间导轨上的每一个节点,使得节点上X、Z坐标为0;步骤五,调整C、D两点使得X坐标相反,Y、Z坐标为0;C点位于左边导轨上,D点位于右边导轨上;步骤六,以C、D两点为基准,调整左右两根分节桁架导轨各自的直线度和与中间那根的平行度;步骤七,重新复测三根分节桁架导轨各自的直线度与相互之间的平行度,具体过程为,重新采集三根分节桁架导轨上每一个节点的三维坐标,然后分别拟合成三根直线,计算每一根的直线度,以及相互之间的平行度,如不满足要求,重复步骤二到七,不断收敛直至直线度与平行度满足要求为止;其中,采用的分节导轨,导轨的节数可以根据桁架的尺寸增加或减少;步骤二中采集地面的三个点,拟合一个平面,目的是使得导轨的平面与地面平行;步骤三中建立的坐标系不局限于A点为坐标原点,也可以B点为坐标原点;步骤四和五中,激光跟踪仪的实时坐标显示调整为XYZ坐标,方便实时了解每一个节点的坐标。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院光电技术研究所 一种检测与调整衍架导轨平行度的方法

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