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【发明授权】一种显示屏凹痕缺陷检测的方法和系统_中导光电设备股份有限公司_202310570859.5 

申请/专利权人:中导光电设备股份有限公司

申请日:2023-05-19

公开(公告)日:2023-10-13

公开(公告)号:CN116309583B

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/62;G06T5/20

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.10.13#授权;2023.07.11#实质审查的生效;2023.06.23#公开

摘要:本发明公开了一种显示屏凹痕缺陷检测的方法和系统,包括以下步骤:获取检测区域图像;根据形态特征提取所述检测区域图像的凹痕区域;将所述凹痕区域的凹痕缺陷合并;对合并后的凹痕缺陷进行过滤。所述根据形态特征提取所述检测区域图像的凹痕区域过程如下:A所述检测区域包括凹痕检测区域和凹痕非检测区域,将凹痕非检测区域设置成多个四边形,判断所述多个四边形与所述凹痕检测区域是否存在重叠区域;B)采用中值滤波的方法,对图像进行预处理;C采用最大类间方差法,计算预处理后图像的二值化阈值,然后将预处理后的图像二值化,对二值化的图像进行反向运算。本发明在视觉检测系统具有精度高,速度快,稳定性好的特点。

主权项:1.一种显示屏凹痕缺陷检测的方法,其特征在于,包括以下步骤:获取检测区域图像;根据形态特征提取所述检测区域图像的凹痕区域,包括:A所述检测区域包括凹痕检测区域和凹痕非检测区域,将凹痕非检测区域设置成多个四边形,判断所述多个四边形与所述凹痕检测区域是否存在重叠区域,如果存在重叠区域,则将所述重叠区域的像素的灰度值设为255,处理后的图像称为图像M;B)采用中值滤波的方法,对M图像进行预处理;C采用最大类间方差法,计算预处理后图像M的二值化阈值,然后将预处理后的图像二值化,对二值化的图像进行反向运算,获取的图像称为图像N;将所述凹痕区域的凹痕缺陷合并,包括:A)计算缺陷最大面积,所述缺陷最大面积以图像N的面积的0.1倍为上限;B根据缺陷最大面积,采用游程码获取图像N的缺陷,当所有缺陷的面积之和超过所述缺陷最大面积时,不再获取缺陷;C设定缺陷合并的半径,根据该半径,将缺陷逐一合并,获得缺陷列表;所述采用游程码获取图像N的缺陷,包括:对图像N逐行遍历,通过计算每行灰度值为零像素点开始至灰度值为零像素点结束位置,得到图像N的缺陷;所述设定缺陷合并的半径,根据该半径,将缺陷逐一合并,包括:根据获取的所有缺陷的游程码,按照设定缺陷合并的半径,将游程码的行数之差在所述半径的范围内进行合并,生成新的游程码;对合并后的凹痕缺陷进行过滤,包括:A对所述缺陷列表中每个缺陷内的像素点,根据坐标位置采用最小二乘法进行椭圆拟合,根据拟合的椭圆方程计算相应的椭圆参数;B根据缺陷的外接矩形的大小和缺陷的面积过滤非凹痕缺陷;如果缺陷的外接矩形的宽度和高度中最小者大于第一预设值,并且缺陷面积大于第二预设值,拟合椭圆的长短轴比例大于第三预设值,则该缺陷为凹痕缺陷,否则不是凹痕缺陷。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中导光电设备股份有限公司 一种显示屏凹痕缺陷检测的方法和系统

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