申请/专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司

申请日：2021-12-09

公开（公告）日：2023-11-14

公开（公告）号：CN114281621B

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G06F11/34;G11C29/56

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.11.14#授权;2022.04.22#实质审查的生效;2022.04.05#公开

摘要：本发明公开一种SMR硬盘的性能测试方法和系统，其中，SMR硬盘的性能测试方法包括：查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息；将写指针重置到逻辑区块地址的起始位置；使用libzbc库包含的测试工具，控制写指针从起始位置对SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试；根据写操作性能测试的测试结果，生成测试日志。本发明的技术方案能解决现有技术中SMR硬盘写数据不准确的问题。

主权项：1.一种SMR硬盘的性能测试方法，其特征在于，包括：查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息；将写指针重置到所述逻辑区块地址的起始位置；使用libzbc库包含的测试工具，控制所述写指针从所述起始位置对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试；根据所述写操作性能测试的测试结果，生成测试日志；所述控制所述写指针从所述起始位置对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试的步骤，包括：根据所述起始位置，计算所述写指针到SMR硬盘中特定数据块信息的偏移量；使用所述libzbc库包含的测试工具，控制所述写指针跳过所述SMR硬盘的C-Zone数据块信息；根据所述偏移量，控制所述写指针从所述起始位置开始依次对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作；还包括：当获取特定数据块信息的写操作测试结果后，将所述写指针重置到所述逻辑区块地址的起始位置；根据下一数据块的大小，重新计算所述写指针的偏移量；按照所述偏移量，控制所述写指针对所述下一数据块进行写操作；直至获取到所述SMR硬盘中每个所述特定数据块信息的写操作测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州浪潮智能科技有限公司 一种SMR硬盘的性能测试方法和系统

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