申请/专利权人：惠州视维新技术有限公司

申请日：2021-11-22

公开（公告）日：2023-12-05

公开（公告）号：CN114089162B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.12.05#授权;2022.03.15#实质审查的生效;2022.02.25#公开

摘要：本申请涉及一种TCON芯片测试方法、装置和存储介质。该TCON芯片测试方法包括：在接收到待测试芯片的接入信号的情况下，根据所述接入信号确定对应的芯片信息，所述芯片信息包括所述待测试芯片的芯片标签；确定与所述芯片标签对应的目标测试模式；按照所述目标测试模式对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果。上述TCON芯片测试方法、装置和存储介质可通过接入信号自动确定芯片信息，通过芯片信息自动确定目标测试模式，按照目标测试模式自动进行测试；故本申请实现了对TCON芯片的自动化测试，测试过程无需人工参与，因此提高了测试效率。

主权项：1.一种TCON芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：在接收到待测试芯片的接入信号的情况下，根据所述接入信号确定对应的芯片信息，其中，所述芯片信息包括所述待测试芯片的芯片标签；确定与所述芯片标签对应的目标测试模式；按照所述目标测试模式对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果；所述目标测试模式包括所述待测试芯片的各个接口对应的测试方案，所述按照所述目标测试模式对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果，包括：按照所述待测试芯片的各个接口对应的测试方案，对所述待测试芯片的各个接口进行测试，得到所述待测试芯片的各个接口的测试结果；所述按照所述待测试芯片的各个接口对应的测试方案，对所述待测试芯片的各个接口进行测试，得到所述待测试芯片的各个接口的测试结果，包括：在目标接口对应的测试方案为第一方案的情况下，当前待测试的所述目标接口为屏幕供电的接口，检测所述目标接口的输出电压，得到所述目标接口的驱动电压，其中，所述目标接口为所述待测试芯片的多个接口中的任意一个接口，所述测试结果包括所述目标接口的驱动电压；在所述目标接口对应的测试方案为第二方案的情况下，当前待测试的所述目标接口为屏幕提供时序信号的接口，检测所述目标接口的输出波形，得到所述目标接口输出的时序信号，其中，所述测试结果包括所述目标接口输出的时序信号。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 惠州视维新技术有限公司 TCON芯片测试方法、装置和存储介质

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