申请/专利权人：杭州岸达科技有限公司;上海岸达电子科技有限公司

申请日：2023-08-31

公开（公告）日：2023-12-08

公开（公告）号：CN116819431B

主分类号：G01S3/14

分类号：G01S3/14

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.12.08#授权;2023.10.24#实质审查的生效;2023.09.29#公开

摘要：本发明实施例提出一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法，通过形单元方向图对相模的影响，获得高于的高阶斜率相位曲线，同时保持相对稳定的幅度方向图，更高的线斜率意味着，可以获得更高的估计精度。

主权项：1.一种基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法，其特征在于，包括：采用具有∞形方向图的N个天线单元组成圆阵天线，N为大于2的整数；使相邻两个所述天线单元之间的间距为0.8~1.2倍波长；采用一阶相模和二阶相模激励所述圆阵天线，分别获得N-1阶的远场相位方向图、N-2阶的远场相位方向图、N-1阶幅度方向图和N-2阶的幅度方向图，所述幅度方向图包括幅度曲线，所述幅度曲线在目标带宽内保持幅度相对稳定；所述远场相位方向图包括反常相模的相位曲线，在所述反常相模的相位曲线下高次谐波的幅度始终大于基波的幅度；所述相位曲线的斜率大于；利用反常相模的相位曲线，获得高精度测向结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州岸达科技有限公司;上海岸达电子科技有限公司 基于反常相模激励的相位干涉仪测向方法

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