申请/专利权人：杰讯光电(福建)有限公司

申请日：2023-10-26

公开（公告）日：2024-01-16

公开（公告）号：CN117405362A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02;G01M11/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.02#实质审查的生效;2024.01.16#公开

摘要：本发明公开了一种C‑lens透镜均匀性检测工艺，包括：将待测透镜装载在测量台的测量夹具上；控制干涉仪发射第一测量平行光束；采集第一测量平行光束经待测透镜折射后在第一挡板上形成的光斑的第一高度；获得待测透镜对应的各个标准参数以及待测透镜与第一挡板之间的第一距离；根据第一测量平行光束的直径、第一高度、各个标准参数以及第一距离，获得测量夹具在垂直方向的第一调整距离；根据第一调整距离，调整测量夹具的高度以改变待测透镜位置；响应于测量夹具调整完毕，控制干涉仪发出两束同源的光线；通过显微镜观测获得干涉条纹的形状和分布情况；根据干涉条纹的形状和分布情况，获得待测透镜的均匀性。本发明提高C‑lens透镜均匀性检测的准确性。

主权项：1.一种C-lens透镜均匀性检测工艺，其特征在于，所述工艺包括：步骤S101、将待测透镜装载在测量台的测量夹具上；其中，所述测量台包括干涉仪、显微镜、所述测量夹具以及第一挡板，所述干涉仪和所述第一挡板分别设置于所述测量夹具的两侧；步骤S102、控制所述干涉仪发射第一测量平行光束，并获得所述第一测量平行光束的直径；采集所述第一测量平行光束经所述待测透镜折射后在所述第一挡板上形成的光斑的第一高度；其中，所述第一高度从与所述待测透镜下方平行线起开始测量；步骤S103、获得所述待测透镜对应的各个标准参数以及所述待测透镜与所述第一挡板之间的第一距离；根据所述第一测量平行光束的直径、所述第一高度、各个所述标准参数以及所述第一距离，获得所述测量夹具在垂直方向的第一调整距离；其中，所述标准参数包括：所述待测透镜的折射率、所述待测透镜的球面对应的半径、所述待测透镜柱形部分的直径和长度，所述第一距离小于所述待测透镜的焦距；步骤S104、根据所述第一调整距离，调整所述测量夹具的高度以改变所述待测透镜位置；步骤S105、响应于所述测量夹具调整完毕，控制所述干涉仪发出两束同源的光线；其中，一束光线直接进入所述显微镜内，另一束光线经所述待测透镜折射后进入所述显微镜内；步骤S106、通过显微镜观测获得干涉条纹的形状和分布情况；根据所述干涉条纹的形状和分布情况，获得所述待测透镜的均匀性。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杰讯光电(福建)有限公司 一种C-lens透镜均匀性检测工艺

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