申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2023-10-20

公开（公告）日：2024-01-19

公开（公告）号：CN117421893A

主分类号：G06F30/20

分类号：G06F30/20;G06F30/17;G06F111/10

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.06#实质审查的生效;2024.01.19#公开

摘要：本发明公开了窄线宽光源OFDR系统相干衰落抑制效果评估方法，包括：对窄线宽光源进行参数调控，仿真激光器携带的本征相位噪声；对相干衰落噪声的抑制方法进行参数调控，定量控制抑制方法的实现效果；一维光纤OFDR系统建模，利用外差法，对后向散射光与本振光的拍频解调，获取所需测量结果；生成测量结果的定量评估结果，完成OFDR系统的相干衰落抑制仿真及效果评估。本发明通过自主设置OFDR系统和抑制方法的参数，得到测量结果受非理想光源相干衰落噪声影响的变化规律，体现相干衰落噪声的统计特性及其抑制效果，评估结果更为精确全面，能够多变量对比、多角度分析，为有关理论研究与实际应用中的系统优化与设计提供帮助。

主权项：1.窄线宽光源OFDR系统相干衰落抑制效果评估方法，其特征在于，包括：对窄线宽光源进行参数调控，仿真激光器携带的本征相位噪声；对相干衰落噪声的抑制方法进行参数调控，定量控制抑制方法的实现效果；基于所述本征相位噪声和调控后的参数，进行一维光纤OFDR系统建模，建立待评估OFDR系统模型，基于所述待评估OFDR系统模型仿真外差法测量，通过对后向散射光与本振光的拍频解调，获取所需测量结果；对所述测量结果进行定量评估，完成OFDR系统的相干衰落抑制及其效果评估。

全文数据：

权利要求：

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