申请/专利权人：东莞市利致软件科技有限公司

申请日：2023-10-20

公开（公告）日：2024-01-26

公开（公告）号：CN117452181A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.13#实质审查的生效;2024.01.26#公开

摘要：本公开揭示了一种ATC高低温测试数据的温度解析方法，包括：S100：设定芯片测试的标准参数，所述标准参数包括标准温度、波动温度和测试卡控时长，其中，所述标准温度和波动温度构成卡控温度；S200：记录芯片当前测试时间；S300：实时获取芯片根据当前测试时间测试开始后在所设定的测试卡控时长内的测试温度曲线；S400：将所采集的芯片测试温度曲线与卡控温度进行比对，根据比对结果判断芯片的实际温度是否存在异常。本公开不需要监控GPIB信号，只需记录芯片测试开始时间和结束时间，以及获取芯片的实际温度即可对芯片温度是否存在异常进行准确分析。

主权项：1.一种ATC高低温测试数据的温度解析方法，包括以下步骤：S100：设定芯片测试的标准参数，所述标准参数包括标准温度、波动温度和测试卡控时长，其中，所述标准温度和波动温度构成卡控温度；S200：记录芯片当前测试时间；S300：实时获取芯片根据当前测试时间测试开始后在所设定的测试卡控时长内的测试温度曲线；S400：将所获取的芯片测试温度曲线与卡控温度进行比对，根据比对结果判断芯片的实际温度是否存在异常。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 东莞市利致软件科技有限公司 一种ATC高低温测试数据的温度解析方法

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