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【发明公布】一种基于simd的低比特量化处理方法_北京君正集成电路股份有限公司_202210876520.3 

申请/专利权人:北京君正集成电路股份有限公司

申请日:2022-07-25

公开(公告)日:2024-02-02

公开(公告)号:CN117492839A

主分类号:G06F9/38

分类号:G06F9/38;G06F17/15

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.02.23#实质审查的生效;2024.02.02#公开

摘要:本发明提供一种基于simd的低比特量化处理方法,包括:S1,将输入数据sum转化为64比特整型数据,将mul转化为64比特整型数据,max_precision=15;S2,sum与mul相乘得到的结果向右移位max_precision‑left_shift;得到结果res1,res1为32比特整型数据,如公式所示:res1=sum×mul>>max_precision‑left_shift;S3,将res1向右移位right_shift,得res2;S4,对res1的公式优化处理;S5,对res2进行剪裁clip处理,得到结果res3;S6,根据要求输出是有符号还是无符号,利用res3和bitw进行数据转化得到最终结果。实现量化的simd优化,以及速度的提升。

主权项:1.一种基于simd的低比特量化处理方法,其特征在于,所述方法中量化处理需要的数据输入参数,预处理数据sum,固定移位值max_precision,模型参数相乘数据mul,模型参数左移数据left_shift,模型参数右移数据right_shift,输出特征图比特位数bitw,所述方法包括以下步骤:S1,卷积计算结果数据作为量化处理的输入数据sum,将输入数据sum转化为64比特整型数据,将mul转化为64比特整型数据,max_precision=15;S2,sum与mul相乘得到的结果向右移位max_precision-left_shift;得到结果res1,res1为32比特整型数据,如公式所示:res1=sum×mul>>max_precision-left_shift;S3,将res1向右移位right_shift,结果为res2,如公式所示:res2=res1right_shift;S4,res1对应的公式进行优化处理,如公式1所示:res2=[sum×mul<<left_shift+16]>>max_precision+161;将mul数据向左移16位,设为mul32,即mul32=mul<<left_shift+162将max_precision+16,设为max_precision31,即max_prcision31=max_precision+16,有max_precision31=313其中max_precision31是向左移位的位数,这里是31位;由于存在一条simd指令sumv=ingenic_mulq_hsumv,mulv;能够实现两个存放32位数据的寄存器相乘后再移位31位的操作,所以这里在向这个31位移位方向处理;由2和3有res2=[sum×mul32max_precision31]4S5,对res2进行剪裁clip处理,大于255的为255,小于0的为0,中间结果不变,得到结果res3;S6,根据要求输出是有符号还是无符号,利用res3和bitw进行数据转化得到最终结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京君正集成电路股份有限公司 一种基于simd的低比特量化处理方法

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