申请/专利权人：铜仁职业技术学院

申请日：2023-11-07

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN117517935A

主分类号：G01R31/317

分类号：G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/319;G01R31/3193

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要：本发明涉及一种门电路好坏检测系统及方法，属于自动检测技术领域。本发明的按键模块同时与LED指示模块、编码电路和组合逻辑电路连接，组合逻辑电路与继电器J1连接，编码电路通过数据选择模块与信号比较模块连接；方波发生器Ⅰ同时与计数器、信号寄存模块连接，计数器与继电器J2连接，同时，计数器分别通过IC座Ⅰ、IC座Ⅱ与信号寄存模块连接，信号寄存模块通过信号比较模块与显示模块连接，显示模块与方波发生器Ⅱ连接。本发明能够快速、自动地检测每片常见逻辑门芯片中每一个门电路的好坏，从而提高芯片利用率，减少芯片资源的浪费。

主权项：1.一种门电路好坏检测系统，其特征在于：所述系统包括按键模块1、LED指示模块2、编码电路3、数据选择电路4、组合逻辑电路5、继电器J1、继电器J2、方波发生器Ⅰ、方波发生器Ⅱ、计数器8、IC座Ⅰ、IC座Ⅱ、信号寄存模块10、信号比较模块11和显示模块12；所述按键模块1同时与LED指示模块2、编码电路3和组合逻辑电路5连接，组合逻辑电路5与继电器J1连接，编码电路3通过数据选择模块4与信号比较模块11连接；所述方波发生器Ⅰ同时与计数器8、信号寄存模块10连接，计数器8与继电器J2连接，同时，计数器8分别通过IC座Ⅰ、IC座Ⅱ与信号寄存模块10连接，信号寄存模块10通过信号比较模块11与显示模块12连接，显示模块12与方波发生器Ⅱ连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 铜仁职业技术学院 一种门电路好坏检测系统及方法

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