申请/专利权人：中国特种设备检测研究院

申请日：2021-04-14

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN112964777B

主分类号：G01N27/83

分类号：G01N27/83

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.06#授权;2021.07.02#实质审查的生效;2021.06.15#公开

摘要：本发明涉及一种表面裂纹走向的双激励检测方法，利用双激励传感器在待测件表面形成随时间旋转的电涡流场，沿着固定的检测路径扫查经过待测件缺陷位置，提取待测件表面XY两轴磁场畸变信息，利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向。本发明所述检测方法解决了单一检测磁场传感器二维栅格扫查与阵列探头扫查相比检测时间倍增的问题，实现了一次性扫查完成裂纹检测及走向判断，大大提高了检测效率。

主权项：1.一种表面裂纹走向的双激励检测方法，利用双激励传感器在待测件表面形成随时间旋转的涡流场，利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向，其特征在于：在待测件表面建立二维直角坐标系，双激励传感器的扫查路径始终沿着x轴正向，提取待测件表面x、y两轴磁场畸变信息ΔBxm、ΔBym，在所述利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向之前，还包括裂纹有无的检测判断，具体如下：根据ACFM检测技术的正演模型理论，双U型线圈下x、y方向磁场幅值随探头移动的表达公式如下： 式中，d为裂纹深度，β为潜在裂纹的走向与扫查路径的夹角，和分别是Einc，xX,0和Einc，yX,0的一维傅里叶变换，Einc，xX,0和Einc，yX,0是裂纹区域x、y方向上的电场分量，X是所述待测件表面二维直角坐标系x方向对应的空间频率分量；根据实施所述表面裂纹走向的双激励检测方法的检测设备确定检测参数，当d取在检测过程中待测件允许出现的最小裂纹深度时，将检测参数和最小裂纹深度代入上述ACFM正演模型，用将正演模型和有限元分析结合的方法计算在检测过程中允许出现的最小裂纹深度引起的磁场电压Brmin＝Bxmin+Bymin；当检测过程中出现大于Brmin的幅值变化时，再利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向，旋转磁场下裂纹方向为：β＝arctanΔBymΔBxm其中，β为裂纹与x轴正向夹角，ΔBxm＝Bxmin-B0，ΔBym＝Bymin-B0，B0为不存在裂纹时的磁场信号幅值，Bxmin、Bymin为对应坐标分量的磁场波谷信号最小幅值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国特种设备检测研究院 一种表面裂纹走向的双激励检测方法

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