申请/专利权人：北京控制工程研究所

申请日：2021-09-23

公开（公告）日：2024-02-09

公开（公告）号：CN114040187B

主分类号：H04N17/00

分类号：H04N17/00;H04N17/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.09#授权;2022.03.01#实质审查的生效;2022.02.11#公开

摘要：本发明一种适用于深空探测彩色相机图像传感器筛选测试方法及装置，针对深空探测彩色相机应用需要的各颜色通道在各个温度下的准确定量测试，以及大批量快捷测试，采用基于温控暗室、电机可控RGBD滤光片及自动曝光方式的光电参数测试，包括积分球，温控暗室，暗室具有玻璃开窗，玻璃开窗后为RGBD滤光片，待测试芯片与积分球、玻璃开窗及滤光片处于同轴放置，待测待测试芯片安装在芯片测试底板，暗室内电机及芯片测试底板通过测试线缆与测试计算机连接。通过计算机控制RGBD滤光片及芯片测试底板的自动曝光，实现在各个温度下对彩色相机图像传感器的三个颜色通道的明暗及暗场图像进行自动化快捷测试，从而满足深空探测任务的准确性及高可靠要求。

主权项：1.一种使用深空探测彩色相机图像传感器筛选测试装置进行深空探测彩色相机图像传感器筛选测试的方法，所述方法包括：1将待测试芯片装在测试板后，上位机打开测试软件，测试软件初始化，测试开始；2上位机初始化过程中，光源预热，首次测试光源预热30分钟，待光源稳定；3设置测试温度点，温控暗箱温度稳定后开始测试；4选择一个颜色通道，上位机控制电机将相应颜色滤光片移动到积分球出口处；所述颜色通道包括RGB三种颜色；所述颜色通道包括R通道、G通道和B通道三个颜色通道”5采用自动曝光方式获取曝光时间初始值；6根据曝光时间初始值，设置需要测试的曝光时间，并进行明场图像采集；7上位机控制电机将D滤光片移动到积分球出口处；8按照上述步骤6的曝光时间完成暗场图像采集；9该颜色通道测试完毕之后，重复上述步骤4～7的过程，完成下一个颜色通道测试；采用EMVA1288标准光电测试方法计算得到RGB三个通道的光电参数；10上述步骤4～9测试完成后，返回步骤3测试下一个测试温度点，重复上述步骤4～9的过程，直到所有测试温度点测试完成；所述深空探测彩色相机图像传感器筛选测试装置，包括积分球、温控暗箱、玻璃开窗、RGBD滤光片、待测试芯片、芯片测试底板、测试线缆和测试计算机；所述积分球放置在温控暗箱外部，温控暗箱具有玻璃开窗，玻璃开窗后为RGBD滤光片，待测试芯片与积分球、玻璃开窗及RGBD滤光片处于同轴放置，待测试芯片安装在芯片测试底板上，温控暗箱内的RGBD滤光片及芯片测试底板通过测试线缆与测试计算机连接；通过测试计算机控制RGBD滤光片及芯片测试底板的自动曝光，实现在各个测试温度点下对彩色相机图像传感器的三个颜色通道的明场及暗场图像进行自动化快捷测试；所述RGBD滤光片包含4种滤光片，其中R、G、B三种颜色滤光片分别对应彩色图像传感器RGB三种像素光谱响应的波长，D滤光片为黑色挡板。

全文数据：

权利要求：

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