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【发明授权】一种改进型集成电路带状线小室测量装置_中国人民解放军国防科技大学_202111547447.7 

申请/专利权人:中国人民解放军国防科技大学

申请日:2021-12-16

公开(公告)日:2024-02-09

公开(公告)号:CN114236367B

主分类号:G01R31/3193

分类号:G01R31/3193

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.02.09#授权;2022.04.12#实质审查的生效;2022.03.25#公开

摘要:本发明公开了一种改进型集成电路带状线小室测量装置,包括底板、导电芯板以及具有带状线小室的主体,所述主体固定设在所述底板上;所述主体两端设有射频接口,所述导电芯板位于所述带状线小室内,且所述导电芯板的两端分别与所述射频接口的芯线相连。通过在带状线小室内加装有耗介质片或永磁体片或芯板缝隙,可有效吸收高次模产生的谐波,有效扩展了带状线小室的适用频段,弥补了传统带状线小室可用测量频段的不足,实现了更宽频段集成电路辐射发射测试。本发明应用于集成电路电磁兼容技术领域。

主权项:1.一种改进型集成电路带状线小室测量装置,其特征在于,包括底板、导电芯板以及具有带状线小室的主体,所述主体固定设在所述底板上;所述主体两端设有射频接口,所述导电芯板位于所述带状线小室内,且所述导电芯板的两端分别与所述射频接口的芯线相连;还包括有耗介质片,所述有耗介质片位于所述带状线小室内,且所述有耗介质片位于所述底板与所述导电芯板之间;所述有耗介质片为介电常数等于1.579±0.058、介质损耗角正切值大于0.15且小于0.3的介质片;导电芯板的四个角部均为倒圆角结构,以进一步改善VSWR值;所述有耗介质片为风干的水杉木片,厚度为3mm。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国人民解放军国防科技大学 一种改进型集成电路带状线小室测量装置

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