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【发明授权】一种USB OTG测试方法_北京君正集成电路股份有限公司_202010564598.2 

申请/专利权人:北京君正集成电路股份有限公司

申请日:2020-06-19

公开(公告)日:2024-02-27

公开(公告)号:CN113820583B

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28;H01L21/66

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.02.27#授权;2022.01.07#实质审查的生效;2021.12.21#公开

摘要:本发明提供一种USBOTG测试方法,所述方法包括以下步骤:S1,将一个GPIO作为一个开关并配成输出口,连接到待测芯片的两根数据线与两个USB连接器之间;S2,所述两个USB连接器分别连接PC机和U盘;S3,通过程序控制由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向;S4,通过GPIO的电平变化,所述开关打到第一位置连接到连个USB连接器中连接PC机的一个;或是打到第二位置连接到两个USB连接器中连接U盘的另一个,完成USBOTG测试。满足了芯片自动化测试的要求,方法简单操作方便。

主权项:1.一种USBOTG测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S1,将一个GPIO作为一个开关并配成输出口,连接到待测芯片的两根数据线与两个USB连接器之间;S2,所述两个USB连接器分别连接PC机和U盘;S3,通过程序模块控制由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向;S4,通过GPIO的电平变化,所述开关打到第一位置连接到两个USB连接器中连接PC机的一个;或是打到第二位置连接到两个USB连接器中连接U盘的另一个,完成USBOTG测试;所述的步骤S4进一步包括以下步骤:S4.1,当所述开关打到第一位置时,待测芯片接到第一USB连接器,通过USB数据线与PC机连接,PC机做host,芯片做slave,测试芯片和PC通讯,验证芯片做为slave功能是否正常;S4.2,当所述开关打到第二位置时,待测芯片接到第二USB连接器,所述的待测芯片的两根数据线USB_D+和USB_D-这两根差分线接到第二USB连接器,U盘插入第二USB连接器,芯片做为host,U盘做为slave,测试芯片和U盘通讯,验证芯片做为host功能是否正常。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京君正集成电路股份有限公司 一种USB OTG测试方法

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