申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日：2023-11-02

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117617889A

主分类号：A61B3/08

分类号：A61B3/08;A61B3/14;A61B3/00;G08B21/24;G08B3/10

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：本发明公开了一种基于遮盖测试的斜视度数检测系统，包括头托、定标点、显示器、摄像头、光源、语音播报器和控制装置；所述头托与显示器相对设置且头托与显示器两者所在平面相互平行；所述定标点通过由两个设置对称的立柱和立柱上的横梁组成的支架安装在头托正上方，定标点安装在横梁中部；摄像头、光源分别安装在显示器上且两者位于同一平面内，该平面平行于显示器所在平面，所述摄像头的视场覆盖头托；所述显示器、摄像头和语音播报器均连接控制器。本发明不受kappa角的影响，能够准确测量斜视度数，解决了传统斜视度数检测技术较为主观，且需要专业医师参与测量的缺点。

主权项：1.一种基于遮盖测试的斜视度数检测系统，其特征在于，包括头托1、定标点3、显示器7、摄像头8、光源9、语音播报器和控制装置；其中，所述头托1与显示器7相对设置且头托1与显示器7两者所在平面相互平行；所述定标点3通过由两个设置对称的立柱和立柱上的横梁组成的支架安装在头托1正上方，定标点3安装在横梁中部；所述摄像头8、光源9分别安装在显示器上且两者位于同一平面内，该平面平行于显示器7所在平面，所述摄像头8的视场覆盖头托1；所述显示器7、摄像头8和语音播报器均连接控制器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于遮盖测试的斜视度数检测系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD