申请/专利权人：马锐

申请日：2022-06-25

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117630769A

主分类号：G01R33/02

分类号：G01R33/02;G06F17/18;G09B23/18

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：基于实验数据重正化毕奥—萨伐尔定律的方法，是利用可测量磁感应强度的装置，在长导线附近的空间点P1处测量该处的磁感应强度，得到该处磁感应强度参数B1，利用测距装置测量空间点P1与长导线的中心线之间的距离，得到距离参数R1；然后再沿着长导线的垂直方向移动测量磁感应强度的装置，在长导线附近的空间点P2处测量该处的磁感应强度，得到该处磁感应强度参数B2，利用测距装置测量空间点P2与长导线的中心线之间的距离，得到距离参数R2。其目的是提供一种可得到毕奥‑萨伐尔定律中的场强反向位置常数rb，从而更好的服务于各种涉及计算磁场的场强大小的科技项目的基于实验数据重正化毕奥—萨伐尔定律的方法。

主权项：1.基于实验数据重正化毕奥—萨伐尔定律的方法，其特征在于：其包括如下步骤：A、设置一个直的长度为dl的长导线，通上电流强度为I的恒稳电流；B、利用可测量磁感应强度的装置，在长导线附近的空间点P1处测量该处的磁感应强度，得到该处磁感应强度参数B1，利用测距装置测量空间点P1与长导线的中心线之间的距离，得到距离参数R1，利用角度测量装置，测量空间点P1与长导线二端连线之间的夹角θ1；C、沿着长导线的垂直方向移动测量磁感应强度的装置，在长导线附近的空间点P2处测量该处的磁感应强度，得到该处磁感应强度参数B2，利用测距装置测量空间点P2与长导线的中心线之间的距离，得到距离参数R2，利用角度测量装置，测量空间点P2与长导线二端连线之间的夹角θ2；D，重复步骤C多次，即利用可测量磁感应强度的装置，在长导线附近的空间点P3、P4、……处分别测量该处的磁感应强度，分别得到对应的磁感应强度参数B3、B4、……，利用测距装置分别测量空间点P3、P4、……与长导线的中心线之间的距离，得到多个距离参数R3、R4、……，利用角度测量装置，分别测量空间点P3、P4、P5、……与长导线二端连线之间的夹角θ3、θ4、……；E、根据修正后的毕奥-萨伐尔定律公式 式中rb是毕奥-萨伐尔定律的场强反向位置常数，令k＝μ04π；将多次测量得到的数据分别代入1式，分别得到：B1＝kIdl·sinθ1R1+rb22B2＝kIdl·sinθ2R2+rb23B3＝kIdl·sinθ3R3+rb24B4＝kIdl·sinθ4R4+rb25……将2式、3式、4式、5式分别相互进行相除处理，可得到：B1B2＝[sinθ1R1+rb2][sinθ2R2+rb2]7B1B3＝[sinθ1R1+rb2][sinθ3R3+rb2]8B1B4＝[sinθ1R1+rb2][sinθ4R4+rb2]9B2B3＝[sinθ2R2+rb2][sinθ3R3+rb2]10B2B4＝[sinθ2R2+rb2][sinθ4R4+rb2]11B3B4＝[sinθ3R3+rb2][sinθ4R4+rb2]12再将通过实验测量到的B1、B2、B3、B4、……、θ1、θ2、θ3、θ4、……、和R1、R2、R3、R4、……代入上式，即可得出毕奥-萨伐尔定律中多个场强反向位置常数rb的具体数值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 马锐 基于实验数据重正化毕奥—萨伐尔定律的方法

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