申请/专利权人：意法半导体(R&D)有限公司

申请日：2023-09-01

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：CN117665835A

主分类号：G01S17/26

分类号：G01S17/26;G01S7/48;G01S7/481

优先权：["20220907 US 17/939,471"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要：本公开涉及使用SPAD进行载波调制测距。一种光学测距系统，包括：第一锁相环PLL，被配置为生成第一频率信号和第二频率信号；第二PLL，被配置为基于控制信号生成第三频率信号，控制信号是使用第一频率信号形成的；光源，耦合到第二PLL，其中由光源发射的光信号的强度被配置为根据第三频率信号进行调制；第一单光子雪崩二极管SPAD，被配置为接收反射的光信号；时间到数字转换器TDC，耦合到第一SPAD，其中TDC被配置为通过在第二频率信号的控制下对第一SPAD的输出信号进行采样来生成数字样本；参考信号发生器，被配置为生成参考信号；以及混频器，被配置为混合参考信号和来自TDC的数字样本。

主权项：1.一种光学测距系统，包括：第一锁相环PLL，被配置为生成第一频率信号和第二频率信号；第二PLL，被配置为基于控制信号生成第三频率信号，其中控制信号是使用第一频率信号形成的；光源，耦合到第二PLL，其中由光源发射的光信号的强度被配置为根据第三频率信号进行调制；第一单光子雪崩二极管SPAD，被配置为接收反射的光信号；时间到数字转换器TDC，耦合到第一SPAD，其中TDC被配置为通过在第二频率信号的控制下对第一SPAD的输出信号进行采样来生成数字样本；参考信号发生器，被配置为生成参考信号；以及混频器，被配置为混合参考信号和来自TDC的数字样本。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 意法半导体(R&D)有限公司 使用SPAD进行载波调制测距

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