申请/专利权人：厦门福信光电集成有限公司

申请日：2023-11-24

公开（公告）日：2024-03-12

公开（公告）号：CN117687234A

主分类号：G02F1/13

分类号：G02F1/13;G06T7/00;G06T7/73;G06T5/70;G06T5/94

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.29#实质审查的生效;2024.03.12#公开

摘要：本发明公开了一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，包括以下步骤：S1：利用光学系统对待检测区域进行成像，获取待检测导电粒子图像；S2；对待检测导电粒子图像进行图像增强处理，提高图像的对比度，突出导电粒子；S3：对经过图像增强处理的导电粒子图像进行分割，获取bump区域集合；S4：对获取的bump区域集合计算导电粒子个数；S5：将计算得到的导电粒子映射至对应的空白bump投影区域内，计算导电粒子的偏位情况。相应的，本发明还提出了一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置。本发明解决了目前液晶屏导电粒子计数精度低及对导电粒子的偏位情况检测精度低的问题。

主权项：1.一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：利用光学系统对待检测区域进行成像，获取待检测导电粒子图像；S2；对待检测导电粒子图像进行图像增强处理，提高图像的对比度，突出导电粒子；S3：对经过图像增强处理的导电粒子图像进行分割，获取bump区域集合；S4：对获取的bump区域集合计算导电粒子个数；S5：将计算得到的导电粒子映射至对应的空白bump投影区域内，计算导电粒子的偏位情况；S6：输出得到的导电粒子个数及偏位情况结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 厦门福信光电集成有限公司 一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法及装置

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