申请/专利权人:苏州和林微纳科技股份有限公司
申请日:2023-11-27
公开(公告)日:2024-03-15
公开(公告)号:CN117706142A
主分类号:G01R1/067
分类号:G01R1/067;G01R31/28;G01R29/08
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开
摘要:本发明公开了一种同轴射频高可靠性信号传输结构及RF射频芯片的测试装置,包括套管、弹簧、柱塞,所述弹簧安装在套管的盲孔内,所述柱塞的一端压在弹簧的自由端,且位于所述套管内,所述柱塞的另一端连接有测试压头,所述套管上设置有格栅,所述格栅对应位于套管内的柱塞,所述套管的格栅部分向套管的中心轴方向内凹形变,所述套管的格栅形变后的内径小于柱塞的外径,所述套管的格栅的内壁与柱塞的外侧壁紧密接触。本发明的检测性能稳定,能用于阻值及信号一致性、传输稳定性要求高的场合,解决了常规结构在工作时因为震动、偏摆等原因导致的不稳定因素。
主权项:1.一种同轴射频高可靠性信号传输结构,包括套管1、弹簧2、柱塞3,所述弹簧2安装在套管1的盲孔内,所述柱塞3的一端压在弹簧2的自由端,且位于所述套管1内,所述柱塞3的另一端连接有测试压头5,其特征在于:所述套管1上设置有格栅6,所述格栅6对应位于套管1内的柱塞3,所述套管1的格栅6部分向套管1的中心轴方向内凹形变,所述套管1的格栅6形变后的内径小于柱塞3的外径,所述套管1的格栅6的内壁与柱塞3的外侧壁紧密接触。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 苏州和林微纳科技股份有限公司 同轴射频高可靠性信号传输结构及RF射频芯片的测试装置
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