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【发明公布】射出成型机的优劣判定系统_芝浦机械株式会社_202280050913.7 

申请/专利权人:芝浦机械株式会社

申请日:2022-07-15

公开(公告)日:2024-03-15

公开(公告)号:CN117715737A

主分类号:B29C45/76

分类号:B29C45/76

优先权:["20210721 JP 2021-120631"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要:为了使优劣判定的精度提高且更可靠地确定不合格的原因,射出成型机的优劣判定系统具备:监测数据提取部122,其从使由射出成型机1成型的成型品的优劣的判定结果与监测数据相关的基础数据提取合格品时监测数据和不合格时监测数据;高影响度监测数据提取部123,其提取由监测数据提取部122提取出的监测数据中的对于不合格种类的影响度高的高影响度监测数据;成型时参数计算部125,其计算基于与高影响度监测数据相同的种类的监测数据而进行由射出成型机1成型时的成型品的优劣判定时的参数即成型时参数;以及优劣判定部127,其将成型时参数与作为对于成型时参数而言的阈值的判定阈值比较,进行是否产生了不合格品的判定。

主权项:1.一种射出成型机的优劣判定系统,其特征在于,具备:监测数据提取部,其从使由射出成型机成型的成型品是合格品还是不合格品的判定结果与将所述成型品成型时的所述射出成型机的监测数据相关的基础数据,分别提取多个作为所述合格品成型时的所述监测数据的合格品时监测数据和作为所述不合格品成型时的所述监测数据的不合格时监测数据;高影响度监测数据提取部,其从由所述监测数据提取部提取出的多个所述监测数据中的对于所述不合格品的不合格种类的影响度最高的一个起按顺序将多个所述监测数据作为高影响度监测数据而提取;成型时参数计算部,其计算成型时参数,所述成型时参数是基于与所述高影响度监测数据相同的种类的所述监测数据而进行由所述射出成型机成型时的成型品的优劣判定时的参数;以及优劣判定部,其将由所述成型时参数计算部计算出的所述成型时参数与作为对于所述成型时参数而言的阈值的判定阈值比较,进行在由所述射出成型机成型的所述成型品中是否产生了所述不合格品的判定。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 芝浦机械株式会社 射出成型机的优劣判定系统

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