申请/专利权人:同济大学
申请日:2023-11-21
公开(公告)日:2024-03-19
公开(公告)号:CN117723269A
主分类号:G01M11/02
分类号:G01M11/02;G01J4/00
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开
摘要:本发明涉及一种用于Nd:YAG激光器的偏振测量系统及方法,所述测量系统包括激光光闸、零级14波片、零级12波片、第一偏振分束立方、第二偏振分束立方、第一高灵敏能量计和第二高灵敏能量计,使用所述偏振测量系统测量偏振度时,对于椭圆偏振光,先使用所述零级14波片进行相位调制,以获得线偏振光;对于线偏振光,直接使用所述零级12波片进行相位延迟,以获得所需偏振方向的输出;通过对两台高灵敏能量计的示数进行读取和修正,获得最终的偏振测量结果。与现有技术相比,本发明可以得到Nd:YAG倍频基频激光的准确偏振度,易于安装、使用简便。
主权项:1.一种用于Nd:YAG激光器的偏振测量系统,其特征在于,包括激光光闸8、零级14波片4、零级12波片5、第一偏振分束立方2、第二偏振分束立方3、第一高灵敏能量计6和第二高灵敏能量计7,所述激光光闸8后依次设置所述零级14波片4、所述零级12波片5、所述第一偏振分束立方2和所述第二偏振分束立方3,所述第一高灵敏能量计6位于所述第二偏振分束立方3的后方,所述第二高灵敏能量计7位于所述第二偏振分束立方3的侧方;使用所述偏振测量系统测量偏振度时,对于椭圆偏振光,先使用所述零级14波片4进行相位调制,以获得线偏振光;对于线偏振光,直接使用所述零级12波片5进行相位延迟,以获得所需偏振方向的输出;通过对所述第一高灵敏能量计6和所述第二高灵敏能量计7的示数进行读取和修正,获得最终的偏振测量结果。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 同济大学 一种用于Nd:YAG激光器的偏振测量系统及方法
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