申请/专利权人：赫智科技(苏州)有限公司

申请日：2023-11-14

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117724020A

主分类号：G01R33/032

分类号：G01R33/032;G01R33/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本申请涉及光学测量技术领域，尤其涉及一种磁光克尔测试装置，包括：至少一组磁性模块，包括上下间隔布置且用于形成测试磁场的第一电磁组件和第二电磁组件；第一电磁组件和第二电磁组件间形成样品容置空间；第一电磁组件上设置多个光通道；光源模块能出射测试光，测试光能够通过光通道照射至样品容置空间；承载模块设置有承载待测样品的承载部，承载部能伸入样品容置空间内并协同待测样品相对于光通道移动；检测模块用于接收待测样品针对测试光反射的检测光，并生成待测样品的磁光克尔测试数据；本申请中通过在第一电磁组件上设置多个光通道，测试光通过光通道照射至待测样品上，从而可以同时对待测样品上的多个测试点进行测试，提高了测试效率。

主权项：1.一种磁光克尔测试装置，其特征在于，包括：至少一组磁性模块1，包括上下间隔布置且用于形成测试磁场的第一电磁组件11和第二电磁组件12；所述第一电磁组件11和所述第二电磁组件12间形成样品容置空间；所述第一电磁组件11上贯穿设置有至少两个光通道10；光源模块3，用于出射测试光，所述测试光能够通过所述光通道10照射至所述样品容置空间；承载模块2，设置有承载待测样品20的承载部，所述承载部能够伸入所述样品容置空间内，所述承载模块2能够协同所述待测样品20相对于所述光通道10移动；检测模块，用于接收所述待测样品20针对所述测试光反射的检测光，并基于所述检测光生成所述待测样品20的磁光克尔测试数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 赫智科技(苏州)有限公司 一种磁光克尔测试装置

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