申请/专利权人：紫光同芯微电子有限公司

申请日：2023-12-04

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117725881A

主分类号：G06F30/398

分类号：G06F30/398

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本申请涉及集成电路技术领域，公开一种用于生成寄存器测试用例的方法，包括：读取集成电路设计规格书中电路模块的寄存器说明总表和寄存器描述表；根据电路模块的寄存器说明总表，生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件；根据电路模块的寄存器描述表，更新寄存器初始列表文件，以获得寄存器测试列表文件；根据寄存器测试列表文件内存储的寄存器测试信息，对寄存器进行读写测试并生成测试用例。该方法既能够自动生成寄存器测试用例，又能够提升寄存器验证的可靠性。本申请还公开一种用于生成寄存器测试用例的装置及测试设备。

主权项：1.一种用于生成寄存器测试用例的方法，其特征在于，包括：读取集成电路设计规格书中电路模块的寄存器说明总表和寄存器描述表；根据电路模块的寄存器说明总表，生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件；根据电路模块的寄存器描述表，更新寄存器初始列表文件，以获得寄存器测试列表文件；根据寄存器测试列表文件内存储的寄存器测试信息，对寄存器进行读写测试并生成测试用例。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 紫光同芯微电子有限公司 用于生成寄存器测试用例的方法及装置、测试设备

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