申请/专利权人：英诺赛科(苏州)半导体有限公司

申请日：2022-09-30

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117730258A

主分类号：G01R27/08

分类号：G01R27/08;G01R31/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本公开提供一种半导体系统1和半导体系统的制造及操作方法。半导体系统1包括钳位电路104、第一滤波器110、第二滤波器120、第一运算放大器OP130以及第二OP140。钳位电路104连接到半导体装置100的第一端子100a以防止半导体装置100受到干扰。第一滤波器110连接到钳位电路104。第一OP130连接到第一滤波器110。第一OP130被配置成差分OP以生成第一输出电压136，使得测量电阻器150两端的压降被排除并测量半导体装置100两端的导通状态压降。第二滤波器120连接到半导体装置100的第二端子100c。第二OP140连接到第二滤波器120。第二OP140被配置为生成第二输出电压146，以便测量流过半导体装置100的电流。第一输出电压136和第二输出电压146被配置为测量半导体装置100的导通电阻。

主权项：1.一种半导体系统，包括：钳位电路，连接到半导体装置的第一端子，以防止所述半导体装置受到干扰；第一滤波器，连接到所述钳位电路；第一运算放大器OP，连接到所述第一滤波器，其中，所述第一OP被配置成差分OP以生成第一输出电压，使得测量电阻器两端的压降被排除并测量所述半导体装置两端的导通状态压降；第二滤波器，连接到所述半导体装置的第二端子；以及第二OP，连接到所述第二滤波器，其中，所述第二OP被配置为生成第二输出电压以测量流过所述半导体装置的电流，并且所述第一输出电压和第二输出电压被配置为测量所述半导体装置的导通电阻。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 英诺赛科(苏州)半导体有限公司 半导体系统和制造及操作半导体系统的方法

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