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【发明公布】测量系统、相关集成电路和方法_意法半导体股份有限公司_202311208245.9 

申请/专利权人:意法半导体股份有限公司

申请日:2023-09-19

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117723094A

主分类号:G01D5/24

分类号:G01D5/24;H03F3/45

优先权:["20220919 IT 102022000019113","20230918 US 18/369,583"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要:一种具有第一电容和第二电容以及切换、控制和测量电路的测量系统在正常操作期间对电容进行充电放电。切换和控制电路周期性地将第一电容的第一端子连接至第一电压和参考电压,并且将第二电容的第一端子连接至第二电压和参考电压。第一电容的第二端子和第二电容的第二端子被连接至差分积分器的输入端子,电容之间的电荷差被转移到差分积分器。当差分积分器的输出信号超过比较器的滞后阈值时,比较器触发。两个解耦电容被连接在比较器的输入与差分积分器的输出之间,并且两个重置阶段被用于存储对这些解耦电容的各种干扰,从而提高精度。

主权项:1.一种测量系统,包括:第一电容和第二电容;切换电路,被配置为接收第一控制信号和第二控制信号,并且:响应于所述第一控制信号被断言,而将所述第一电容的第一端子连接至第一电压,并且将所述第二电容的第一端子连接至第二电压;并且响应于所述第二控制信号被断言,而将所述第一电容的所述第一端子和所述第二电容的所述第一端子连接至参考电压;控制电路,被配置为根据切换周期来生成所述第一控制信号和所述第二控制信号,其中所述控制电路被配置为在每个切换周期期间重复:针对第一间隔,取消断言所述第一控制信号和所述第二控制信号,针对第二间隔,取消断言所述第一控制信号并且断言所述第二控制信号,针对第三间隔,取消断言所述第一控制信号和所述第二控制信号,并且针对第四间隔,断言所述第一控制信号并且取消断言所述第二控制信号;测量电路,包括:差分积分器,包括:差分运算放大器,具有反相输入和非反相输入,所述差分运算放大器的所述反相输入被连接至所述第一电容的第二端子,所述差分运算放大器的所述非反相输入被连接至所述第二电容的第二端子;第一积分电容,具有第一端子和第二端子,所述第一积分电容的所述第一端子被连接至所述差分运算放大器的所述反相输入,所述第一积分电容的所述第二端子经由第一电子开关连接至所述差分运算放大器的正输出端子;所述差分积分器的第一输出节点,被连接至所述第一积分电容的所述第二端子;第二积分电容,具有第一端子和第二端子,所述第二积分电容的所述第一端子被连接至所述差分运算放大器的所述非反相输入,所述第二积分电容的所述第二端子经由第二电子开关连接至所述差分运算放大器的负输出端子;所述差分积分器的第二输出节点,被连接至所述第二积分电容的所述第二端子;第三电子开关,被连接在所述差分运算放大器的所述反相输入与所述差分运算放大器的所述正输出端子之间;以及第四电子开关,被连接在所述差分运算放大器的所述非反相输入与所述差分运算放大器的所述负输出端子之间;以及具有滞后的比较器,被配置为响应于被施加到所述比较器的负输入端子的电压超过被施加到所述比较器的正输入端子的电压加上滞后阈值,而将所述比较器的第一输出端子设置为高,并且将所述比较器的第二输出端子设置为低,其中所述比较器包括:第五电子开关,被连接在所述比较器的所述负输入端子与所述比较器的所述第二输出端子之间;第六电子开关,被连接在所述比较器的所述正输入端子与所述比较器的所述第一输出端子之间;第一解耦电容,被连接在所述比较器的所述负输入端子与所述差分积分器的所述第一输出节点之间;以及第二解耦电容,被连接在所述比较器的所述正输入端子与所述差分积分器的所述第二输出节点之间;所述控制电路还被配置为:在正常操作阶段期间:通过断言所述第二控制信号来闭合所述第一电子开关和所述第二电子开关,并且通过取消断言所述第二控制信号来断开所述第一电子开关和所述第二电子开关;通过断言所述第一控制信号来闭合所述第三电子开关和所述第四电子开关,并且通过取消断言所述第一控制信号来断开所述第三电子开关和所述第四电子开关;断开所述第五电子开关和所述第六电子开关;并且监测指示重置请求的重置请求信号,并且响应于确定所述重置请求信号指示重置请求而开始重置阶段;并且在所述重置阶段期间:针对第一重置间隔,闭合所述第一电子开关、第二电子开关、第三电子开关、第四电子开关、第五电子开关和第六电子开关;并且针对第二重置间隔,断开所述第三电子开关和所述第四电子开关,并且维持所述第一电子开关、第二电子开关、第五电子开关和第六电子开关闭合,然后再次开始所述正常操作阶段。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 意法半导体股份有限公司 测量系统、相关集成电路和方法

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