申请/专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院

申请日：2020-09-28

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN114428092B

主分类号：G01N23/2202

分类号：G01N23/2202;G01N23/2251

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.05.20#实质审查的生效;2022.05.03#公开

摘要：本发明公开了一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法和应用。所述有机质孔隙形成与演化原位观测方法包括以下步骤：步骤A、将样品进行微观观察；步骤B、将样品置于显微镜外接冷热台中，设置第一程序升温条件及第一终止温度，并记录有机质演化过程；步骤C、将样品进行有机质演化特征观察；步骤D、重复步骤B和步骤C一次或多次，不同的是，设置第二程序升温条件及第二终止温度，直至有机质消失。该方法能够用于页岩有机质孔隙形成与演化原位观测，为不同类型有机质孔隙形成与演化研究提供更加直接的技术支持。

主权项：1.一种有机质孔隙形成与演化原位观测方法，包括以下步骤：对样品进行有机质原位标记，其中所述样品选择低成熟岩心或新鲜露头；所述样品经过切割、打磨和抛光处理；经过抛光后样品厚度小于1mm；所述有机质原位标记所采用的仪器为激光器；步骤A、将样品进行微观观察；其中，所述微观观察所采用的仪器为场发射扫描电镜；所述微观观察包括样品的有机质原始形态、结构、有机质与矿物接触关系；步骤B、将样品置于显微镜外接冷热台中，设置第一程序升温条件及第一终止温度，并记录有机质演化过程；记录有机质演化过程的方法包括采用拍照方式进行记录，所述拍照的时间间隔为5-120秒；步骤C、达到不同的设定温度之后取出样品，将样品进行有机质演化特征观察；所述特征包括孔隙发育特征、有机质形态、结构和有机质与矿物接触关系；所述有机质演化特征观察所采用的仪器为场发射扫描电镜；步骤D、重复步骤B和步骤C一次或多次，不同的是，设置第二程序升温条件及第二终止温度，直至有机质消失；其中，所述第一程序升温和第二程序升温的条件各自独立地包括：升温速率为10-30℃小时，达到终止温度后保持5-20分钟；所述第一终止温度和第二终止温度各自独立地为120-600℃，所述第二终止温度高于所述第一终止温度，在重复步骤B和步骤C的过程中，后一次的终止温度比前一次的终止温度高，前后两次的终止温度间隔35-100℃。

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