申请/专利权人：合肥金域医学检验实验室有限公司

申请日：2021-10-17

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN113957131B

主分类号：C12Q1/6869

分类号：C12Q1/6869

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.02.15#实质审查的生效;2022.01.21#公开

摘要：本发明公开一种废旧芯片重新处理再利用的方法，包括以下步骤：S1：用由退火缓冲液和无核酸酶水按照0.75‑1.25：1的体积比配制的AB溶液清洗测序失败的废旧芯片3‑5次；S2：分两次将200‑250uL由吐温溶液和NaOH溶液按照6‑8：1的体积比配制的洗脱液加入芯片孔中，25℃室温孵育3‑5min；S3：再用AB溶液清洗芯片3‑5次；S4：将35‑45uL测序引物和30‑35uL退火缓冲液混合均匀后，再将其加入芯片孔中，再放到pcr仪进行退火；S5：用80‑150uL的AB溶液清洗芯片3‑5次后，将60‑70uL酶反应液加入芯片孔中，25℃室温孵育4‑8min后，上机测序；所述酶反应液由55‑63μLAB溶液+5‑7μL测序聚合酶。本发明通过对测序失败的废旧芯片进行处理利用，使废芯片能重新测序，实现废旧芯片的循环再生，节约资源，避免造成浪费。

主权项：1.一种废旧芯片重新处理再利用的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：用AB溶液清洗测序失败的废旧芯片3-5次，每次清洗，AB溶液用量为80-150uL，所述废旧芯片为采用半导体法的上机测试失败后的测序反应通用试剂盒中的芯片；所述AB溶液由退火缓冲液和无核酸酶水按照（0.75-1.25）：1的体积比混合配制而成；S2：分两次将200-250uL洗脱液加入芯片孔中，25℃室温孵育3-5min；所述洗脱液由吐温溶液和NaOH溶液按照（6-8）：1的体积比混合配制而成；S3：再用AB溶液清洗芯片3-5次，每次清洗，AB溶液用量为80-150uL；S4：将35-45uL测序引物和30-35uL退火缓冲液混合均匀后，配制成65-80uL退火体系，再将其加入芯片孔中，再放到pcr仪进行退火；S5：用80-150uL的AB溶液清洗芯片3-5次后，将60-70uL酶反应液加入芯片孔中，25℃室温孵育4-8min后，上机测序；所述酶反应液由55-63μLAB溶液和5-7μL测序聚合酶配制而成。

全文数据：

权利要求：

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