申请/专利权人：武汉虹信科技发展有限责任公司

申请日：2020-12-11

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN112613165B

主分类号：G06F30/20

分类号：G06F30/20;G06Q10/04;G06F119/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.04.06#公开

摘要：本发明实施例提供一种通信设备寿命预测方法及装置，其中，该方法包括：获取目标通信设备的关键芯片的运行参数；若根据运行参数和预先获取的老化模型判断获知关键芯片存在异常老化，则将预测结果确定为目标通信设备即将达到使用寿命；其中，关键芯片为恒温压控晶振和或非线性宏单元闪存芯片；老化模型是根据目标通信设备的关键芯片的特性获得的。本发明实施例提供的通信设备寿命预测方法及装置，通过将恒温压控晶振和或非线性宏单元闪存芯片作为关键芯片，根据关键芯片实际的运行参数，获取关键芯片当前的老化速度，当关键芯片的老化速度属于异常老化，将目标通信设备的寿命预测结果确定为即将达到使用寿命，能准确预测目标通信设备的寿命。

主权项：1.一种通信设备寿命预测方法，其特征在于，包括：获取目标通信设备的关键芯片的运行参数；若根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断获知所述关键芯片存在异常老化，则将预测结果确定为所述目标通信设备即将达到使用寿命；其中，所述关键芯片为恒温压控晶振和非线性宏单元闪存芯片；所述老化模型是根据所述目标通信设备的关键芯片的特性获得的；所述获取目标通信设备的关键芯片的运行参数的具体步骤包括：获取所述恒温压控晶振当前单位时间段标准温度下的压控值；根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断所述关键芯片是否存在异常老化的具体步骤包括：根据所述恒温压控晶振当前单位时间段标准温度下的压控值和所述老化模型，获取所述恒温压控晶振当前单位时间段的老化速度；若判断获知所述恒温压控晶振的老化速度大于预设的老化速度阈值的连续单位时间段的段数大于预设的数量阈值，则确定所述恒温压控晶振存在异常老化；所述老化模型为回归方程，用于描述所述关键芯片的运行参数与老化速度之间的关系；所述根据所述恒温压控晶振当前单位时间段标准温度下的压控值和所述老化模型，获取所述恒温压控晶振当前单位时间段的老化速度，包括：基于所述回归方程，根据预设数量的连续多个单位时间段实际采样的压控值与理论压控值之间的差值进行回归分析，获取所述恒温压控晶振当前单位时间段的老化速度；其中，按照时间先后顺序，所述当前单位时间段，为所述连续多个单位时间段中的最后一个时间段；所述回归方程的计算公式为:y＝bx+a；其中，y为实际采样的压控值与理论压控值之间的差值，b为所述恒温压控晶振当前单位时间段的老化速度，x为所述当前单位时间段的序号。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉虹信科技发展有限责任公司 通信设备寿命预测方法及装置

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