申请/专利权人:罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请日:2023-08-22
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117740832A
主分类号:G01N22/00
分类号:G01N22/00
优先权:["20220920 EP 22196475.2"]
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.03.22#公开
摘要:本发明涉及测量可重新配置的智能表面的特性。提供了用于测量可重新配置的智能表面的性能的方法。所述方法包括以下步骤:将发送信号发送100到所述可重新配置的智能表面;从所述可重新配置的智能表面接收101相应的反射作为接收信号;以及比较102所述发送信号和所述接收信号,以确定或得到由所述可重新配置的智能表面施加的相位和或振幅变化。
主权项:1.一种用于测量可重新配置的智能表面的一个或多个特性的方法,所述方法包括以下步骤:将发送信号发送100到所述可重新配置的智能表面;从所述可重新配置的智能表面接收101相应的反射作为接收信号;以及比较102所述发送信号和所述接收信号,以确定或得到由所述可重新配置的智能表面施加的相位和或振幅变化。
全文数据:
权利要求:
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